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1. (WO2014193736) SYSTEM AND METHOD FOR PROVIDING SKETCH DIMENSIONS FOR A DRAWING VIEW
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2014/193736    International Application No.:    PCT/US2014/039177
Publication Date: 04.12.2014 International Filing Date: 22.05.2014
IPC:
G06F 17/50 (2006.01)
Applicants: SIEMENS PRODUCT LIFECYCLE MANAGEMENT SOFTWARE INC. [US/US]; 5800 Granite Parkway, Suite 600 Plano, TX 75024-6612 (US)
Inventors: SOMAN, Shrinivas; (US).
GURAV, Nilesh; (IN).
GHOSH, Arindam; (IN).
ANAND, Manish; (IN)
Agent: EVENSEN, Andrea, L.; (US)
Priority Data:
624/KOL/2013 29.05.2013 IN
14/257,660 21.04.2014 US
Title (EN) SYSTEM AND METHOD FOR PROVIDING SKETCH DIMENSIONS FOR A DRAWING VIEW
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ PERMETTANT D'OBTENIR DES DIMENSIONS D'ÉBAUCHE POUR UNE VUE EN DESSIN
Abstract: front page image
(EN)Methods for providing sketch dimensions for a drawing view and corresponding systems and computer-readable mediums. A method includes receiving a geometric model including a revolved feature (306, 406) generated using sketch dimensions (304, 404) of sketch objects of a sketch (302, 402). The sketch (302, 402) and the sketch dimensions (304, 404) are in a sketch plane. The method includes, in response to one or more of the sketch objects being visible in a current view plane (314, 414) of the revolved feature (306, 406), generating a drawing view (320, 420) of the one or more sketch objects in the current view plane (314, 414). The drawing view (320, 420) includes the sketch dimensions (304, 404) of the one or more sketch objects.
(FR)L'invention concerne des procédés permettant d'obtenir des dimensions d'ébauche pour une vue en dessin et systèmes et supports lisibles par ordinateurs correspondants. Un procédé consiste à recevoir un modèle géométrique comprenant un élément rabattu (306, 406) généré au moyen de dimensions d'ébauche (304, 404) d'objets d'ébauche d'une ébauche (302, 402). L'ébauche (302, 402) et les dimensions d'ébauche (304, 404) sont dans un plan d'ébauche. Le procédé consiste, lorsque l'un ou plusieurs des objets d'ébauche sont visibles dans un plan de vue en cours (314, 414) de l'élément rabattu (306, 406), à générer une vue en dessin (320, 420) de l'un ou de plusieurs des objets d'ébauche dans le plan de vue en cours (314, 414). La vue en dessin (320, 420) comprend les dimensions d'ébauche (304, 404) du ou des objets d'ébauche.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
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European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)