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1. (WO2014193699) DEVICE AND SYSTEM FOR ULTRASONIC INSPECTION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2014/193699    International Application No.:    PCT/US2014/038754
Publication Date: 04.12.2014 International Filing Date: 20.05.2014
IPC:
G01N 29/24 (2006.01), G01N 29/28 (2006.01)
Applicants: GENERAL ELECTRIC COMPANY [US/US]; 1 River Road Schenectady, NY 12345 (US)
Inventors: SCACCABAROZZI, Luca; (DE)
Agent: CONKLIN, Mark, A.; General Electric Company Global Patent Operation 3135 Easton Turnpike Fairfield, CT 06828 (US)
Priority Data:
13/903,648 28.05.2013 US
Title (EN) DEVICE AND SYSTEM FOR ULTRASONIC INSPECTION
(FR) DISPOSITIF ET SYSTÈME D'INSPECTION ULTRASONIQUE
Abstract: front page image
(EN)This disclosure describes embodiments of a probe assembly and an inspection system for ultrasonic inspection. Designs for the probe assembly package components to fit into a bore of a hollow target. These designs may incorporate electronics to generate waves and to detect a wide selection of anomalies (e.g., transversal crack, longitudinal crack, and volumetric flaws) that can form in the hollow target. The probe assembly provides support structure to manipulate and operate these electronics in the bore. This support structure facilitates communication of signals, e.g., from transducer elements that operate as a phased array. The probe assembly also includes a fluid circulating system and coupling system that permits the probe device to detach and reattach to match the probe device (and other parts of the probe assembly) to the size of the bore. These systems allow for fluid and electrical signals to circulate through the probe assembly.
(FR)L'invention concerne un ensemble sonde et un système d'inspection pour inspection ultrasonique. Des modèles pour des composants d'emballage de l'ensemble sonde s'ajustent dans un alésage d'une cible creuse. Ces modèles peuvent incorporer de l'électronique pour générer des ondes et détecter une large sélection d'anomalies (par ex., fissure transversale, fissure longitudinale, et défectuosités volumétriques) qui peuvent se former dans la cible creuse. L'ensemble sonde fait office de structure de support pour manipuler et exploiter cette électronique dans l'alésage. Cette structure de support facilite la communication de signaux, par ex. provenant d'éléments de transducteur qui fonctionnent comme un réseau phasé. L'ensemble sonde inclut également un système de circulation de fluide et un système de couplage qui permet au dispositif de sonde de se détacher et se réattacher pour faire concorder le dispositif de sonde (et d'autres pièces de l'ensemble sonde) à la taille de l'alésage. Ces systèmes permettent à un fluide et des signaux électriques de circuler à travers l'ensemble sonde.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)