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1. (WO2014192830) CHEMICAL AND PHYSICAL PHENOMENA DETECTION METHOD AND DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2014/192830    International Application No.:    PCT/JP2014/064177
Publication Date: 04.12.2014 International Filing Date: 28.05.2014
Chapter 2 Demand Filed:    30.03.2015    
IPC:
G01N 27/00 (2006.01), G01N 27/414 (2006.01), G01N 27/416 (2006.01)
Applicants: NATIONAL CENTER FOR GERIATRICS AND GERONTOLOGY [JP/JP]; 35 Gengo, Morioka-machi, Obu-city, Aichi 4748511 (JP).
NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION TOYOHASHI UNIVERSITY OF TECHNOLOGY [JP/JP]; 1-1, Hibarigaoka, Tempaku-cho, Toyohashi-shi, Aichi 4418580 (JP)
Inventors: TAKIKAWA, Osamu; (JP).
OKUNO, Alato; (JP).
YOSHIMI, Tatsuya; (JP).
SAWADA, Kazuaki; (JP).
OKUMURA, Kouichi; (JP)
Agent: KONISHI, Tomimasa; Marunouchi Estate Bldg., 17-12, Marunouchi 2-chome, Naka-ku, Nagoya-shi, Aichi 4600002 (JP)
Priority Data:
2013-112444 29.05.2013 JP
Title (EN) CHEMICAL AND PHYSICAL PHENOMENA DETECTION METHOD AND DEVICE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE DÉTECTION DE PHÉNOMÈNES CHIMIQUE ET PHYSIQUE
(JA) 化学・物理現象検出方法及びその装置
Abstract: front page image
(EN)A detection method suitable for CCD and ISFET sensors is provided. A chemical and physical phenomena detection method for bringing an object to be detected into contact with or close to a sensing unit and measuring the potential variation of the sensing unit, wherein the potential variation of the sensing unit is measured in a state in which a microparticle body on which the object to be detected is captured is fixed to the sensing unit. A microparticle body having the object to be detected captured thereon may be fixed to the sensing unit, or the microparticle body may capture the object to be detected after the microparticle body is fixed to the sensing unit.
(FR)La présente invention porte sur un procédé de détection approprié pour des capteurs CCD et ISFET. La présente invention porte également sur un procédé de détection de phénomènes chimique et physique destiné à amener un objet à détecter en contact avec ou proche d'une unité de détection et mesurer la variation de potentiel de l'unité de détection, la variation de potentiel de l'unité de détection étant mesurée dans un état dans lequel un corps de microparticule sur lequel l'objet à détecter est capturé est fixé à l'unité de détection. Un corps de microparticule sur lequel est capturé l'objet à détecter peut être fixé à l'unité de détection, ou le corps de microparticule peut capturer l'objet à détecter après que le corps de microparticule est fixé à l'unité de détection.
(JA) CCDタイプやISFETタイプのセンサに好適な検出方法を提供する。 検出対象をセンシング部に接触若しくは近接させて、センシング部の電位変化を測定する化学・物理現象検出方法であって、検出対象が捕捉された微小粒体をセンシング部に固定した状態で、センシング部の電位変化を測定する。検出対象を捕捉させた微小粒体をセンシング部に固定しても、微小粒体をセンシング部へ固定した後に検出対象を微小粒体へ捕捉させてもよい。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)