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1. (WO2014192258) SPECTRAL MICROSCOPY DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2014/192258 International Application No.: PCT/JP2014/002675
Publication Date: 04.12.2014 International Filing Date: 21.05.2014
IPC:
G01N 21/27 (2006.01) ,G01N 21/65 (2006.01)
Applicants: CANON KABUSHIKI KAISHA[JP/JP]; 30-2, Shimomaruko 3-chome, Ohta-ku, Tokyo 1468501, JP
Inventors: KYOGAKU, Masafumi; JP
Agent: ABE, Takuma; C/O CANON KABUSHIKI KAISHA, 30-2,Shimomaruko 3-chome, Ohta-ku, Tokyo 1468501, JP
Priority Data:
2013-11314729.05.2013JP
Title (EN) SPECTRAL MICROSCOPY DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MICROSCOPIE SPECTRALE
Abstract: front page image
(EN) A spectral microscopy device includes a spectral detecting unit including a light source that is capable of controlling an output wavelength, a microscope section that is provided with an observation area that is illuminated with light output from the light source, and a signal detector that detects light from the observation area as spectral data; a moving unit configured to move the observation area; and a controller that performs a control operation to allow the spectral detecting unit and the moving unit to move in response to each other. The spectral microscopy device is controlled so that switching between different measurement conditions is performed at an observation area movement time in which the observation area is moved by the moving unit and measurement is performed and at an observation area movement stoppage time in which the observation area is fixed and measurement is performed.
(FR) L'invention concerne un dispositif de microscopie spectrale qui comprend une unité de détection spectrale comprenant une source de lumière qui est susceptible de commander une longueur d'onde de sortie, une section microscope qui est dotée d'une zone d'observation qui est éclairée par la lumière sortant de la source de lumière, et un détecteur de signaux qui détecte la lumière sortant de la zone d'observation sous la forme de données spectrales; une unité de déplacement conçue pour déplacer la zone d'observation; et un organe de commande qui réalise une opération de commande pour permettre que l'unité de détection spectrale et l'unité de déplacement se déplacent en réponse l'une à l'autre. Le dispositif de microscopie spectrale est commandé de sorte qu'une commutation entre diverses conditions de mesure soit réalisée à un temps de déplacement de zone d'observation auquel la zone d'observation est déplacée par l'unité de déplacement et une mesure est réalisée et à un temps d'arrêt de déplacement de zone d'observation auquel la zone d'observation est fixe et une mesure est réalisée.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)