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1. (WO2014191453) METHOD FOR PRODUCING MICROWAVE BOARDS WHICH, ASSEMBLED WITH THE ELECTRONIC COMPONENTS OF SAME, CAN BE ADJUSTED IN A SHORT ADJUSTMENT TIME
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2014/191453    International Application No.:    PCT/EP2014/061045
Publication Date: 04.12.2014 International Filing Date: 28.05.2014
IPC:
H05K 1/02 (2006.01), G06F 17/50 (2006.01)
Applicants: CENTRE NATIONAL D'ETUDES SPATIALES [FR/FR]; 2, Place Maurice Quentin F-75001 Paris (FR)
Inventors: PERAGIN, Eric; (FR)
Agent: BLOT, Philippe; Cabinet Lavoix 2, place d'Estienne d'Orves F-75009 Paris (FR)
Priority Data:
1354793 28.05.2013 FR
Title (EN) METHOD FOR PRODUCING MICROWAVE BOARDS WHICH, ASSEMBLED WITH THE ELECTRONIC COMPONENTS OF SAME, CAN BE ADJUSTED IN A SHORT ADJUSTMENT TIME
(FR) PROCÉDÉ DE FABRICATION DE CARTES HYPERFRÉQUENCES QUI ÉQUIPÉES DE LEURS COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES SONT RÉGLABLES EN UN TEMPS COURT DE RÉGLAGE
Abstract: front page image
(EN)A method for producing assembled microwave boards that can be adjusted in a short time, comprises a first step (12) of determining a first main pattern of simultaneous etching of metal tracks and a second step (14) of determining a first auxiliary pattern of simulated test etching, associated with the first main pattern, having a reference simulated resonance frequency, representative of a characteristic usage frequency of the assembled board, and having a reference characteristic simulated etching size I0 identical to that of the first main pattern. The method comprises a third step (16; 66; 216) of etching a first set of first pairs of printed circuits, each first pair of printed circuits comprising a first main printed circuit and a first auxiliary test printed circuit, corresponding respectively to the first main pattern and to the first auxiliary circuit, with an etching size dispersion around the first characteristic simulated size I0. The method comprises a fourth step (18) of sorting the first main printed circuits based on the measurement of the resonance frequencies of the first auxiliary test circuits.
(FR)Un procédé de réalisation de cartes hyperfréquences, équipées réglables en un temps court, comprend une première étape (12) de détermination d'un premier motif principal de gravure simulée de pistes métalliques et une deuxième étape (14) de détermination d'un premier motif auxiliaire de gravure simulée de test, associé au premier motif principal, ayant une fréquence de résonance simulée de référence, représentative d'une fréquence d'utilisation caractéristique de la carte équipée, et ayant une taille caractéristique de référence I0 de gravure simulée identique à celle du premier motif principal. Le procédé comprend une troisième étape (16; 66; 216) de gravure d'un premier ensemble de premières paires de circuits imprimés, chaque première paire de circuits imprimés comportant un premier circuit imprimé principal et un premier circuit imprimé auxiliaire de test, correspondant respectivement au premier motif principal et au premier motif auxiliaire, avec une dispersion de taille de gravure autour de la première taille caractéristique simulée I0. Le procédé comprend une quatrième étape (18) de tri des premiers circuits imprimés principaux basée sur la mesure des fréquences de résonance des premiers circuits auxiliaires de test.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
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Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)