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1. (WO2014190076) LASER WITH FULL C-BAND TUNABILITY AND NARROW LINEWIDTH
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2014/190076    International Application No.:    PCT/US2014/039010
Publication Date: 27.11.2014 International Filing Date: 21.05.2014
IPC:
H01S 5/0625 (2006.01), H01S 5/10 (2006.01)
Applicants: HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD. [CN/CN]; Huawei Administration Building Bantian, Longgang District Shenzhen, Guangdong 518129 (CN).
FUTUREWEI TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 5340 Legacy Drive Suite 175 Plano, Texas 75024 (US) (US only)
Inventors: CHEN, Hongmin; (US).
LEI, Hongbing; (US).
SHEN, Xiao; (US)
Agent: CONLEY ROSE, P.C.; 5601 Granite Parkway Suite 500 Plano, Texas 75024 (US)
Priority Data:
61/825,590 21.05.2013 US
Title (EN) LASER WITH FULL C-BAND TUNABILITY AND NARROW LINEWIDTH
(FR) LASER POUVANT ÊTRE ACCORDÉ DANS LA TOTALITÉ DE LA BANDE C ET AYANT UNE GROSSEUR DE LIGNE ÉTROITE
Abstract: front page image
(EN)A laser comprises a front mirror (750), a gain section (745) a phase section (740) and a back mirror (715). Front and back mirror with comb reflection spectra are used to enable full C-band tunability using the Vernier effect. To reduce the spectrum width of the reflectivity peaks of the back mirror, the back mirror comprises an interferometer formed by a power splitter 735 and a comb reflector (730) such as a sampled Bragg grating in one arm of the interferometer and a delay line (720) such as a phase adjusting section and a high reflection coating (710) in the other arm of the interferometer.
(FR)L'invention concerne un laser comprenant un miroir avant (750), une section de gain (745), une section de phase (740) et un miroir arrière (715). Les miroirs avant et arrière, ayant des spectres de réflexion en peigne, sont utilisés pour permettre un accord sur la totalité de la bande C en utilisant l'effet Vernier. Pour réduire la largeur spectrale des crêtes de réflectivité du miroir arrière, le miroir arrière comprend un interféromètre formé par un diviseur de puissance (735) et un réflecteur en peigne (730) tel qu'un réseau de Bragg échantillonné dans un bras de l'interféromètre et une ligne à retard (720) telle qu'une section d'ajustement de phase et un revêtement à haut pouvoir réfléchissant (710) dans l'autre bras de l'interféromètre.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)