WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2014188186) METHOD OF PROCESSING A PARTICLE SPECTRUM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2014/188186    International Application No.:    PCT/GB2014/051555
Publication Date: 27.11.2014 International Filing Date: 21.05.2014
IPC:
G01T 1/17 (2006.01), G01T 1/36 (2006.01)
Applicants: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LIMITED [GB/GB]; Tubney Woods Abingdon Oxon OX13 5QX (GB)
Inventors: STATHAM, Peter; (GB)
Agent: GILL JENNINGS & EVERY LLP; The Broadgate Tower 20 Primrose Street London EC2A 2ES (GB)
Priority Data:
1309417.2 24.05.2013 GB
Title (EN) METHOD OF PROCESSING A PARTICLE SPECTRUM
(FR) PROCÉDÉ DE TRAITEMENT DE SPECTRE DE PARTICULE
Abstract: front page image
(EN)A method is provided for processing a spectrum, obtained using a particle detection system, so as to reduce spectrum artefacts arising from unresolved particle events in the detection system. An input spectrum is obtained which contains artefacts due to "pile up" in the detector. A first effect upon the input spectrum of pairs of unresolved particle events is evaluated and a first corrected input spectrum is generated which comprises the input spectrum with the first effect removed. The effect of a pairs of unresolved particle events is then evaluated for this first corrected input spectrum so as to generate a second corrected input spectrum which comprises the input spectrum with the second effect removed. An output spectrum is then generated based upon a combination of the first and second corrected input spectra. The use of the method in improving sum spectra is also discussed.
(FR)La présente invention porte sur un procédé de traitement de spectre, obtenu à l'aide d'un système de détection de particule, de manière à réduire des artefacts de spectre survenant d'événements de particule non résolus dans le système de détection. Un spectre d'entrée est obtenu, contenant des artefacts dus à un « empilement » dans le détecteur. Un premier effet sur le spectre d'entrée de paires d'événements de particule non résolus est évalué et un premier spectre d'entrée corrigé est généré, lequel comprend le spectre d'entrée dont le premier effet est éliminé. L'effet de paires d'événements de particule non résolus est ensuite évalué pour ce premier spectre d'entrée corrigé, de manière à générer un second spectre d'entrée corrigé qui comprend le spectre d'entrée dont le second effet est éliminé. Un spectre de sortie est ensuite généré sur la base d'une combinaison des premier et second spectres d'entrée corrigés. L'invention concerne aussi l'utilisation du procédé dans l'amélioration de spectres de somme.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)