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1. (WO2014187853) OPTOELECTRONIC COMPONENT AND METHOD FOR PRODUCING AN OPTOELECTRONIC COMPONENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2014/187853    International Application No.:    PCT/EP2014/060421
Publication Date: 27.11.2014 International Filing Date: 21.05.2014
IPC:
H01L 27/28 (2006.01)
Applicants: OSRAM OLED GMBH [DE/DE]; Wernerwerkstrasse 2 93049 Regensburg (DE)
Inventors: POPP, Michael; (DE).
JAEGER, Arndt; (DE)
Agent: VIERING, JENTSCHURA & PARTNER; Grillparzerstr. 14 81675 München (DE)
Priority Data:
10 2013 105 229.0 22.05.2013 DE
Title (DE) OPTOELEKTRONISCHES BAUELEMENT UND VERFAHREN ZUM HERSTELLEN EINES OPTOELEKTRONISCHEN BAUELEMENTES
(EN) OPTOELECTRONIC COMPONENT AND METHOD FOR PRODUCING AN OPTOELECTRONIC COMPONENT
(FR) COMPOSANT OPTOÉLECTRONIQUE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN COMPOSANT OPTOÉLECTRONIQUE
Abstract: front page image
(DE)In verschiedenen Ausführungsformen wird ein optoelektronisches Bauelement bereitgestellt, das optoelektronische Bauelement aufweisend: eine optoelektronische Struktur (106), die zu einem Bereitstellen einer ersten elektromagnetischen Strahlung (110, 112) ausgebildet ist; und eine Mess-Struktur (114), die zu einem Messen von elektromagnetischer Strahlung ausgebildet ist, wobei die Mess-Struktur (114) eine optisch aktive Struktur (116) und wenigstens eine elektrooptische Struktur (104) aufweist; wobei die optisch aktive Struktur (116) mit der optoelektronischen Struktur (106) optisch gekoppelt ist; wobei die optisch aktive Struktur (116) zum Aufnehmen einer elektromagnetischen Strahlung ausgebildet ist derart, dass die optisch aktive Struktur (116) ein Mess-Signal aus der aufgenommenen elektromagnetischen Strahlung erzeugt, wobei die aufgenommene elektromagnetische Strahlung wenigstens teilweise die erste elektromagnetische Strahlung (112) und/oder wenigstens eine zweite elektromagnetische Strahlung (108a-d) einer externen Strahlungsquelle aufweist; und wobei die elektrooptische Struktur (104) derart ausgebildet ist, dass sie einen einstellbaren Transmissionsgrad aufweist, so dass der Anteil der auf die optisch aktive Struktur (116) auftreffenden zweiten elektromagnetischen Strahlung (108a-d) einstellbar ist.
(EN)The invention relates to an optoelectronic component in various embodiments, which optoelectronic component comprises: an optoelectronic structure (106), which is designed to provide a first electromagnetic radiation (110, 112); and a measuring structure (114), which is designed to measure electromagnetic radiation, wherein the measuring structure (114) has an optically active structure (116) and at least one electro-optical structure (104); wherein the optically active structure (116) is optically coupled to the optoelectronic structure (106); wherein the optically active structure (116) is designed to absorb an electromagnetic radiation in such a way that the optically active structure (116) produces a measurement signal from the absorbed electromagnetic radiation, wherein the absorbed electromagnetic radiation at least partially comprises the first electromagnetic radiation (112) and/or at least one second electromagnetic radiation (108a-d) of an external radiation source; and wherein the electro-optical structure (104) is designed in such a way that the electro-optical structure has an adjustable transmittance, such that the fraction of the second electromagnetic radiation (108a-d) incident on the optically active structure (116) can be adjusted.
(FR)Dans différents modes de réalisation, l'invention concerne un composant optoélectronique comprenant : une structure optoélectronique (106) adaptée pour générer un premier rayonnement électromagnétique (110, 112) ; et une structure de mesure (114) adaptée pour mesurée le rayonnement électromagnétique, la structure de mesure (114) comprenant une structure optiquement active (116) et au moins une structure électro-optique (104). La structure optiquement active (116) est couplée optiquement à la structure optoélectronique (106). La structure optiquement active (116) est adaptée pour capter un rayonnement électromagnétique afin de générer un signal de mesure à partir du rayonnement électromagnétique capté, le rayonnement électromagnétique capté contenant au moins en partie le premier rayonnement électromagnétique (112) et/ou au moins un second rayonnement électromagnétique (108a-d) provenant d'une source de rayonnement extérieure. La structure électro-optique (104) est configurée de telle sorte qu'elle présente un degré de transmission réglable afin de pouvoir ajuster la fraction du second rayonnement électromagnétique (108a-d) qui frappe la structure optiquement active (116).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)