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1. (WO2014186289) AUTOMATED ATTACHING AND DETACHING OF AN INTERCHANGEABLE PROBE HEAD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2014/186289    International Application No.:    PCT/US2014/037701
Publication Date: 20.11.2014 International Filing Date: 12.05.2014
IPC:
H01L 21/66 (2006.01), G01R 1/073 (2006.01)
Applicants: FORMFACTOR [US/US]; 7005 SouthFront Road Livermore, California 94551 (US)
Inventors: KASAI, Toshihiro; (US).
WATANABE, Masanori; (US).
URAKAWA, Yoichi; (US)
Agent: BURRASTON, N. Kenneth; KIRTON McCONKIE 60 E. South Temple Suite 1800 Salt Lake City, Utah 84111 (US)
Priority Data:
61/823,196 14.05.2013 US
14/274,889 12.05.2014 US
Title (EN) AUTOMATED ATTACHING AND DETACHING OF AN INTERCHANGEABLE PROBE HEAD
(FR) FIXATION ET DÉTACHEMENT AUTOMATISÉS D'UNE TÊTE À POINTES INTERCHANGEABLE
Abstract: front page image
(EN)A probe card apparatus can comprise a tester interface to a test controller, probes for contacting terminals of electronic devices to be tested, and electrical connections there between. The probe card apparatus can comprise a primary sub-assembly, which can include the tester interface. The probe card apparatus can also comprise an interchangeable probe head, which can include the probes. The interchangeable probe head can be attached to and detached from the primary subassembly while the primary sub-assembly is secured to or in a housing of a test system. Different probe heads each having probes disposed in different patterns to test different types of electronic devices can thus be interchanged while the primary sub-assembly is secured to or in a housing of the test system.
(FR)Un appareil à carte à pointes peut comporter : une interface de testeur vers un contrôleur de test; des pointes conçues pour un contact avec des bornes de dispositifs électroniques devant être testés; des branchements électriques entre ces composants; un sous-ensemble principal qui peut contenir l'interface de testeur; et une tête à pointes interchangeable qui peut contenir les pointes. La tête à pointes interchangeable peut être fixée au sous-ensemble principal, et en être détachée, alors que le sous-ensemble principal est fixé à, ou monté dans, un logement d'un système de test. Différentes têtes à pointes comportant chacune des pointes disposées en différents motifs de façon à tester divers types de dispositifs électroniques peuvent donc être interchangées alors que le sous-ensemble principal est fixé à, ou monté dans, un logement du système de test.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)