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Pub. No.:    WO/2014/184947    International Application No.:    PCT/JP2013/063775
Publication Date: 20.11.2014 International Filing Date: 17.05.2013
G01N 27/64 (2006.01), G01N 30/70 (2006.01)
Applicants: SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511 (JP)
Inventors: TAKEMORI, Yusuke; (JP).
KOGA, Kiyonori; (JP)
Agent: YOSHIMOTO, Tsutomu; IZANAGI IP LAW FIRM, Toa Bldg., 5-7, Minamihonmachi 4-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410054 (JP)
Priority Data:
(JA) 電子捕獲検出器
Abstract: front page image
(EN)Provided is an electron capture detector capable of performing accurate analysis even of a sample gas having a high concentration of electrophilic substances. A configuration is provided in which when makeup gas is provided from a makeup gas supply path (12) to the inside of a cell chamber (11), the gas in the cell chamber (11) is in a pressurized state. As a result, the rate of contact between the makeup gas and radiation within the cell chamber (11) increases, and it is possible to increase the amount of emitted electrons within the cell chamber (11). Thus, even for a sample gas with a high concentration of electrophilic substances, it is possible to emit a sufficient amount of electrons. This makes it possible to prevent electron saturation and thereby makes accurate analysis possible.
(FR)L'invention concerne un détecteur à capture d'électrons pouvant effectuer une analyse précise, même d'un échantillon de gaz présentant une concentration élevée en substances électrophiles. Selon une configuration fournie, lorsqu'un gaz d'appoint est distribué par un trajet d'alimentation en gaz d'appoint (12) à l'intérieur d'une chambre de cellule (11), le gaz dans la chambre de cellule (11) est sous pression. Par conséquent, le taux de contact entre le gaz d'appoint et le rayonnement à l'intérieur de la chambre de cellule (11) augmente, et il est possible d'augmenter la quantité d'électrons émis dans la chambre de cellule (11). Ainsi, même pour un échantillon de gaz présentant une concentration élevée en substances électrophiles, il est possible d'émettre une quantité suffisante d'électrons. Ceci permet d'éviter la saturation électronique et rend ainsi possible une analyse précise.
(JA) 親電子性物質の濃度が高い試料ガスであっても正確に分析を行うことができる電子捕獲検出器を提供する。メイクアップガス供給路12からセル室11内にメイクアップガスを供給しているときに、セル室11内のガスが加圧状態となるように構成する。これにより、セル室11内におけるメイクアップガスと放射線との接触確率が高くなり、セル室11内で放出される電子を増加させることができる。したがって、親電子性物質の濃度が高い試料ガスであっても、十分な量の電子を放出させることができ、電子が飽和するのを防止することができるため、正確に分析を行うことができる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)