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Pub. No.:    WO/2014/184574    International Application No.:    PCT/GB2014/051506
Publication Date: 20.11.2014 International Filing Date: 16.05.2014
G01T 1/24 (2006.01), G01K 1/02 (2006.01), G01K 1/10 (2006.01), G01T 1/29 (2006.01), G21K 1/02 (2006.01), G21K 1/10 (2006.01)
Applicants: IBEX INNOVATIONS LTD [GB/GB]; Discovery Centre 2 William Armstrong Way Sedgefield Durham TS21 3FH (GB)
Inventors: GIBSON, Gary; (GB).
SCOTT, Paul; (GB)
Agent: HARGREAVES ELSWORTH; Cooper's Studios 14-18 Westgate Road Newcastle-upon-Tyne Tyne and Wear NE1 3NN (GB)
Priority Data:
1308851.3 16.05.2013 GB
Abstract: front page image
(EN)X-ray imaging apparatus, which includes an x-ray detector (3). The x-ray detector (3) comprises a member configured to convert incident x-ray wavelength photons directly into electronic signals, a position for a material under test (2), an x-ray source (1), and a structure (4) configured to perturb an x-ray energy spectrum, each lying on a common axis. The x-ray source (1) is arranged to direct an x-ray energy spectrum along the common axis to impinge upon the member, the structure (4) configured to perturb the x-ray energy spectrum, and positioned material under test (2). The structure (4) lies between the x-ray source (1) and the member to one side of the position for material under test (2) intersecting the common axis, and the said structure (4) comprises at least three adjacent regions, each region different to immediately adjacent regions and configured to perturb the x-ray energy spectrum differently.
(FR)La présente invention porte sur un appareil d'imagerie par rayons X, qui comprend un détecteur de rayons X (3). Le détecteur de rayons X (3) comprend un élément conçu pour convertir des photons de longueur d'onde de rayons X incidents directement en signaux électroniques, une position pour un matériau à l'essai (2), une source de rayons X (1), et une structure (4) conçue pour perturber un spectre d'énergie de rayons X, chacun reposant sur un axe commun. La source de rayons X (1) est agencée pour diriger un spectre d'énergie de rayons X le long de l'axe commun pour empiéter sur ledit élément, la structure (4) conçue pour perturber le spectre d'énergie de rayons X, et le matériau en position d'essai. La structure (4) repose entre la source de rayons X (1) et l'élément, sur un côté de la position du matériau à l'essai (2) coupant l'axe commun, et ladite structure (4) comprend au moins trois régions adjacentes, chaque région étant différente par rapport à des régions immédiatement adjacentes et conçue pour perturber le spectre d'énergie de rayons X d'une manière différente.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)