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1. (WO2014181388) SOLAR CELL PANEL EXAMINATION DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2014/181388    International Application No.:    PCT/JP2013/062820
Publication Date: 13.11.2014 International Filing Date: 07.05.2013
IPC:
G01R 31/02 (2006.01), G01R 31/265 (2006.01), G01R 33/025 (2006.01), H01L 31/04 (2014.01)
Applicants: INTERNATIONAL TEST & ENGINEERING SERVICES CO., LTD. [JP/JP]; 800, Ichimiyake, Yasu-shi, Shiga 5202392 (JP)
Inventors: SUGIHARA Kaoru; (JP).
IKEDA Teruo; (JP)
Agent: OKINAKA Jin; MY Edobori Building, 6th Floor, 25-31, Edobori 1-chome, Nishi-ku, Osaka-shi, Osaka 5500002 (JP)
Priority Data:
Title (EN) SOLAR CELL PANEL EXAMINATION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'EXAMEN DE PANNEAU DE CELLULE SOLAIRE
(JA) 太陽電池パネルの検査装置
Abstract: front page image
(EN)Provided is a solar cell panel examination device that can be applied, in particular, to a solar cell panel disposed outdoors in a high place. The solar cell panel examination device is disposed outdoors where there is natural world terrestrial magnetism, and is provided with the following: a magnetism detection means for detecting magnetism which can fluctuate due to the energization of a solar cell circuit that constitutes the solar cell panel; an information generation means for generating magnetic information on the basis of the detected magnetism; and a determination means for determining the state of the solar cell circuit from the magnetic information. The magnetic detection means is provided with a magnetic detection element for acquiring the magnetic distribution in the Z-axis direction which is perpendicular to the XY plane, while the magnetic detection element moves in the XY plane which is parallel to a light receiving surface of the solar cell panel to be examined. The information generation means acquires a differential value distribution that indicates a magnetic change amount, by carrying out differential processing on a magnetic distribution. The determination means determines that an examined site in the differential value distribution, the differential value for which is no more than a predetermined threshold value, is a defect location.
(FR)La présente invention porte sur un dispositif d'examen de panneau de cellule solaire qui peut être appliqué, en particulier, à un panneau de cellule solaire disposé à l'extérieur en une haute place. Le dispositif d'examen de panneau de cellule solaire est disposé à l'extérieur où il y a un magnétisme terrestre mondial naturel, et comporte ce qui suit : un moyen de détection de magnétisme destiné à détecter un magnétisme qui peut fluctuer en raison de l'excitation d'un circuit de cellule solaire qui constitue le panneau de cellule solaire ; un moyen de génération d'informations destiné à générer des informations magnétiques sur la base du magnétisme détecté ; et un moyen de détermination destiné à déterminer l'état du circuit de cellule solaire à partir des informations magnétiques. Le moyen de détection magnétique comporte un élément de détection magnétique destiné à acquérir la distribution magnétique dans la direction d'axe Z qui est perpendiculaire au plan XY, alors que l'élément de détection magnétique se déplace dans le plan XY qui est parallèle à une surface de réception de lumière du panneau de cellule solaire à examiner. Le moyen de génération d'informations acquiert une distribution de valeur différentielle qui indique une quantité de changement magnétique, par la réalisation d'un traitement différentiel sur une distribution magnétique. Le moyen de détermination détermine qu'un site examiné dans la distribution de valeur différentielle, la valeur différentielle pour laquelle elle est supérieure à une valeur seuil prédéterminée, est un emplacement de défaut.
(JA) 特に、屋外の高所に設置されている太陽電池パネルに対して適用可能な太陽電池パネルの検査装置を提供する。 自然界の地磁気が存在する屋外に設置された太陽電池パネルの検査装置であって、太陽電池パネルを構成する太陽電池回路が通電することにより変動し得る磁気を検出する磁気検出手段と、検出した磁気に基づいて、磁気情報を生成する情報生成手段と、 磁気情報から太陽電池回路の状態を判定する判定手段と、を備え、磁気検出手段は、検査対象とする太陽電池パネルの受光面と平行なXY面内で移動しながら、XY面に垂直なZ軸方向の磁気分布を取得する磁気検知素子を備え、情報生成手段は、磁気分布を微分処理することにより磁気の変化量を示す微分値分布を取得し、判定手段は、微分値分布から予め定められた閾値以下の検査位置を欠陥箇所として判定する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)