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1. (WO2014181315) PHOTON-COUNTING DETECTOR CALIBRATION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2014/181315    International Application No.:    PCT/IB2014/061357
Publication Date: 13.11.2014 International Filing Date: 10.05.2014
IPC:
A61B 6/03 (2006.01), A61B 6/00 (2006.01), G01T 1/00 (2006.01)
Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS N.V. [NL/NL]; High Tech Campus 5 NL-5656 AE Eindhoven (NL) (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
PHILIPS GMBH [DE/DE]; Lübeckertordamm 5 20099 Hamburg (DE) (DE only)
Inventors: SCHIRRA, Carsten Oliver; (NL).
THRAN, Axel; (NL).
DAERR, Heiner; (NL).
ROESSL, Ewald; (NL)
Agent: STEFFEN, Thomas; High Tech Campus Building 5 NL-5656 AE Eindhoven (NL)
Priority Data:
61/821,773 10.05.2013 US
Title (EN) PHOTON-COUNTING DETECTOR CALIBRATION
(FR) ÉTALONNAGE DE DÉTECTEURS À COMPTAGE DE PHOTONS
Abstract: front page image
(EN)A method includes determining calibration factors for calibrating photon- counting detectors of a spectral imaging system by combining a heuristic calibration of the photon-counting detectors and an analytical calibration of the photon-counting detectors and generating a set of photon-counting calibration factors based on the combining of the a heuristic calibration and the analytical calibration. The photon-counting calibration factors, when applied to measured energy-resolved data from the photon-counting detectors of a spectral CT scan of a subject or object, mitigate spectral distortion caused by a radiation intensity profile shaper that filters a radiation beam of the spectral CT scan.
(FR)L'invention concerne un procédé qui consiste à déterminer des facteurs d'étalonnage pour l'étalonnage de détecteurs à comptage de photons d'un système d'imagerie spectrale par la combinaison d'un étalonnage heuristique des détecteurs à comptage de photons et d'un étalonnage analytique des détecteurs à comptage de photons et à générer un ensemble de facteurs d'étalonnage de comptage de photons sur la base de la combinaison de l'étalonnage heuristique et de l'étalonnage analytique. Les facteurs d'étalonnage de comptage de photons, lorsqu'ils sont appliqués à des données de résolution énergétique mesurées provenant des détecteurs à comptage de photons d'un tomodensitogramme spectral d'un sujet ou d'un objet, atténuent la distorsion spectrale provoquée par un conformateur de profil d'intensité de rayonnement qui filtre un faisceau de rayonnement du tomodensitogramme spectral.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)