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1. (WO2014178823) GAMMA-RAY MICROSCOPY METHODS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2014/178823    International Application No.:    PCT/US2013/038708
Publication Date: 06.11.2014 International Filing Date: 29.04.2013
IPC:
G21K 7/00 (2006.01)
Applicants: TRAN, Nathaniel [US/US]; (US).
PROTEOMYX INC. [--/US]; Suite #9 42065 Zevo Dr. Temecula, CA 92590 (US)
Inventors: TRAN, Nathaniel; (US)
Priority Data:
Title (EN) GAMMA-RAY MICROSCOPY METHODS
(FR) PROCÉDÉS DE MICROSCOPIE PAR RAYONS GAMMA
Abstract: front page image
(EN)This invention teaches a method of performing gamma-ray microscopy and how to build a gamma-ray microscope as well as its equivalent X-ray microscope, and neutron microscope. The method uses projection microscopy with a single-point source of radiation projecting the image of a sample onto a detector array like a film being projected onto a big screen in a movie theater. The advancement here is the creation of point source of radiation small enough to be significant because the size of this point source determines the best resolution possible. The point source of gamma rays is created by crossing a beam of electrons or just ions and a beam of positrons where both beams can be focused to be as small as their De Broglie wavelength. Similarly, a point source for X-rays is generated by crossing a beam of electrons and a beam of ions. A point source of neutrons can be created by crossing a beam of electrons and a beam of protons with sufficient energy, or a beam of protons knocking neutrons out of a beam of mercury ions. Methods for sourcing positrons and ions are taught as well as other features that are necessary to perform these microscopy methods.
(FR)L'invention concerne un procédé de réalisation de microscopie par rayons gamma et comment construire un microscope par rayons gamma ainsi que son microscope par rayons X et son microscope à neutrons équivalents. Le procédé utilise la microscopie par projection, une source ponctuelle unique de rayonnement projetant l'image d'un échantillon sur un réseau de détecteur comme un film étant projeté sur grand écran dans un cinéma. L'avancée ici est la création de source ponctuelle de rayonnement suffisamment petite pour être significative parce que la dimension de la source ponctuelle détermine la meilleure résolution possible. La source ponctuelle de rayons gamma est créée par croisement d'un faisceau d'électrons ou seulement d'ions et d'un faisceau de positrons où les deux faisceaux peuvent être concentrés pour être aussi petits que leur longueur d'onde de De Broglie. De façon similaire, une source ponctuelle pour des rayons X est générée par croisement d'un faisceau d'électrons et d'un faisceau d'ions. Une source ponctuelle de neutrons peut-être créée par croisement d'un faisceau d'électrons et d'un faisceau de protons ayant une énergie suffisante, ou par un faisceau de protons désactivant des neutrons d'un faisceau d'ions mercure. Des procédés de sourçage de positrons et d'ions sont enseignés ainsi que d'autres éléments qui sont nécessaires pour effectuer ces procédés de microscopie.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)