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1. WO2014123081 - SEMICONDUCTOR DEVICE

Publication Number WO/2014/123081
Publication Date 14.08.2014
International Application No. PCT/JP2014/052423
International Filing Date 03.02.2014
IPC
G11C 11/406 2006.1
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
11Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
21using electric elements
34using semiconductor devices
40using transistors
401forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
G01K 7/00 2006.1
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
7Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat
CPC
G01K 7/01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
7Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat
01using semiconducting elements having PN junctions
G11C 11/40626
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
11Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
21using electric elements
34using semiconductor devices
40using transistors
401forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
40626Temperature related aspects of refresh operations
Applicants
  • ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル PS4 LUXCO S.A.R.L. [LU]/[LU] (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW)
  • 赤松 宏 AKAMATSU, Hiroshi [JP]/[JP] (US)
Inventors
  • 赤松 宏 AKAMATSU, Hiroshi
Agents
  • 宮崎 昭夫 MIYAZAKI, Teruo
Priority Data
2013-02319608.02.2013JP
Publication Language Japanese (ja)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) SEMICONDUCTOR DEVICE
(FR) DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEURS
(JA) 半導体装置
Abstract
(EN) This semiconductor device (100) has: a counter (119) that outputs a temperature update command for having temperature information updated every time a predetermined number of periodically output periodic commands is counted; a temperature sensor (120) that detects and outputs the temperature information every time the temperature update command is output; and a temperature information output unit (121) that determines temperature information to be output out of the temperature information from the temperature sensor in response to a periodic command and outputs the determined temperature information in response to a temperature output command used for outputting the temperature information.
(FR) Cette invention porte sur un dispositif à semi-conducteurs (100) qui comprend : un compteur (119) qui délivre une instruction de mise à jour de température pour amener des informations de température à être mises à jour chaque fois qu'un nombre prédéterminé d'instructions périodiques périodiquement délivrées est compté; un capteur de température (120) qui détecte et délivre les informations de température chaque fois que l'instruction de mise à jour de température est délivrée; et une unité de sortie d'informations de température (121) qui détermine des informations de température à délivrer parmi les informations de température provenant du capteur de température en réponse à une instruction périodique et délivre les informations de température déterminées en réponse à une instruction de sortie de température pour délivrer les informations de température.
(JA) 半導体装置100は、定期的に出力される定期コマンドを所定回数カウントするたびに、温度情報の更新を指示する温度更新コマンドを出力するカウンタ119と、温度更新コマンドが出力されるたびに温度情報を検出して出力する温度センサ120と、温度センサからの温度情報のうち出力する温度情報を定期コマンドに応じて確定し、温度情報の出力を指示する温度出力指示コマンドに応じて、確定した温度情報を出力する温度情報出力部121と、を有する。
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