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1. (WO2013163538) SCANNING PROBE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/163538    International Application No.:    PCT/US2013/038401
Publication Date: 31.10.2013 International Filing Date: 26.04.2013
G01Q 70/00 (2010.01)
Applicants: RHK TECHNOLOGY, INC. [US/US]; 1050 East Maple Road Troy, MI 48083 (US)
Inventors: MURDICK, Ryan; (US)
Agent: WALMSLEY, Steven, B.; Reising Ethington P.C. P.o. Box 4390 Troy, MI 48099 (US)
Priority Data:
61/639,395 27.04.2012 US
Abstract: front page image
(EN)An SPM probe, and a method of producing an SPM probe including annealing an electrically conductive wire under ultra-high vacuum, and immersing the wire in an etching solution contained in a first chamber of a container, which includes a second chamber that surrounds the first chamber, also contains the etching solution, and houses an electrically conductive ring surrounding the first chamber. The method also includes applying voltage across the wire and the ring, and retracting the wire in a direction out of the first chamber.
(FR)La présente invention concerne un microscope-sonde à balayage, et un procédé de production d'un microscope-sonde à balayage comprenant le recuit d'un fil conducteur d'électricité sous ultravide, et l'immersion du fil dans une solution de gravure contenue dans une première chambre d'un récipient, qui comporte une seconde chambre autour de la première chambre, et contient également la solution de gravure, et renferme un anneau conducteur d'électricité autour de la première chambre. Le procédé comprend également l'application de tension sur le fil et l'anneau, et le retrait du fil dans une direction hors de la première chambre.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)