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1. (WO2013161835) LAYERED-BODY DETACHMENT-TESTING METHOD AND DETACHMENT-TESTING DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/161835    International Application No.:    PCT/JP2013/061956
Publication Date: 31.10.2013 International Filing Date: 23.04.2013
Chapter 2 Demand Filed:    23.08.2013    
IPC:
G01N 29/04 (2006.01), G01N 29/00 (2006.01)
Applicants: NON-DESTRUCTIVE INSPECTION COMPANY LIMITED. [JP/JP]; 4-16-9, Tenma, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300043 (JP).
MITSUBISHI KAKOKI KAISHA, LTD. [JP/JP]; 2-1, Ohkawa-cho, Kawasaki-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 2108560 (JP)
Inventors: NAGAI, Tatsuyuki; (JP).
KITASAKA, Junichi; (JP).
ENDOH, Ken; (JP)
Agent: KITAMURA, Koji; Seiju IP Firm, AP Bldg., 4-5-14, Nishitenma, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300047 (JP)
Priority Data:
2012-099035 24.04.2012 JP
2012-099036 24.04.2012 JP
Title (EN) LAYERED-BODY DETACHMENT-TESTING METHOD AND DETACHMENT-TESTING DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE TEST DE DÉTACHEMENT POUR UN CORPS FORMÉ DE PLUSIEURS COUCHES, ET DISPOSITIF DE TEST DE DÉTACHEMENT
(JA) 積層体の剥離検査方法及び剥離検査装置
Abstract: front page image
(EN)Provided are a layered-body detachment-testing method and detachment-testing device which are capable of easily and clearly detecting interlayer detachment of a layered body. Multiple-reflected waves are received in advance in both a defect-free section and a simulated-detachment section of a layered body, and a number of reflections is obtained of reflected waves in which the difference between the echo height of the multiple-reflected wave in the defect-free section and the echo height of the multiple-reflected wave in the simulated-detachment section is at or above a prescribed level. The presence/absence of interlayer detachment is tested by receiving a multiple-reflected wave in a test site (E) of a layered body (10), and comparing the echo height of reflected waves for the number of reflections in the test site (E) to the echo height of reflected waves for the number of reflections in the defect-free section.
(FR)L'invention concerne un procédé de test de détachement pour un corps formé de plusieurs couches, et un dispositif de test de détachement, qui permettent de détecter facilement et clairement un détachement intercouche d'un corps en couches. De multiples ondes réfléchies sont reçues à l'avance à la fois dans une section exempte de défaut et dans une section de détachement simulé d'un corps en couches, et un certain nombre de réflexions est obtenu à partir d'ondes réfléchies pour lesquelles la différence entre la hauteur d'écho de l'onde réfléchie multiple dans la section exempte de défaut et la hauteur d'écho de l'onde réfléchie multiple dans la section de détachement simulé est supérieure ou égale à un niveau prescrit. La présence/l'absence de détachement intercouche est testé par réception d'une onde réfléchie multiple dans un site de test (E) d'un corps en couches (10), et par comparaison de la hauteur d'écho des ondes réfléchies pour le nombre de réflexions dans le site de test (E) avec la hauteur d'écho des ondes réfléchies pour le nombre de réflexions dans la section exempte de défaut.
(JA) 簡便でありながら積層体の層間剥離を明瞭に検出することの可能な積層体の剥離検査方法及び剥離検査装置を提供すること。 予め、積層体の健全部及び模擬剥離部において多重反射波をそれぞれ受信し、健全部における多重反射波のエコー高さと模擬剥離部における多重反射波のエコー高さとの差が所定値以上となる反射波の反射回数を求める。積層体10の検査部Eにおいて多重反射波を受信し、検査部Eにおける反射回数の反射波のエコー高さと健全部における反射回数の反射波のエコー高さを比較することにより層間剥離の有無を検査する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)