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Pub. No.:    WO/2013/161226    International Application No.:    PCT/JP2013/002616
Publication Date: 31.10.2013 International Filing Date: 18.04.2013
G01N 15/06 (2006.01), G01N 27/60 (2006.01)
Applicants: NGK SPARK PLUG CO., LTD. [JP/JP]; 14-18,Takatsuji-cho, Mizuho-ku, Nagoya-shi, Aichi 4678525 (JP)
Inventors: JANKA, Kauko; (JP)
Agent: AOKI, Noboru; C/O NGK SPARK PLUG CO., LTD., 2808 Oaza-Iwasaki, Komaki-shi, Aichi 4858510 (JP)
Priority Data:
2012-097567 23.04.2012 JP
(JA) 微粒子検知システム
Abstract: front page image
(EN)Provided is a fine particle sensing system with which it is possible to appropriately sense a quantity of fine particles in a gas, and with which, when an injection quantity of pressurized air and ions declines owing to such as a nozzle being jammed, appropriate sensing is possible. A fine particle sensing system (1) which senses a quantity of a fine particle (S) in a gas (EG) comprises a sensing unit (10), circuits (210, 240, 230), and a pressurized air port (70). The sensing unit (10) further comprises: an ionized gas injection source (11) further comprising a nozzle unit (31) which forms a nozzle (31N) which injects generated ions (CP) together with pressurized air (AK); a fine particle charging unit (12) which forms a mixing region (MX) and a collection electrode (42); and a supplementary electrode (53) which supplements the collection of suspended ions (CPF). A supplementary electrode potential (PV3) is generated with the variable supplementary electrode power source circuit (240). With a potential difference between the supplementary electrode potential (PV3) and a collection electrode potential (PV1) being a trap voltage (Vt), the system (1) further comprises index sensing means (S54-S5C) for deriving an index trap voltage (Vt1-2) corresponding to a pre-determined exhaust suspended ion (CPFH) quantity, and a determination means (S5F) for determining whether same is greater than an allowed voltage (Vtmin).
(FR)L'invention concerne un système de détection de particules fines grâce auquel il est possible de détecter de manière appropriée une quantité de particules fines dans un gaz, et grâce auquel, lorsqu'une quantité d'injection d'air pressurisé et d'ions diminue en raison par exemple d'une buse qui se bouche, une détection appropriée est possible. Un système de détection de particules fines (1) qui détecte une quantité de particules fines (S) dans un gaz (EG) comprend une unité de détection (10), des circuits (210, 240, 230), et un orifice à air pressurisé (70). L'unité de détection (10) comprend en outre : une source d'injection de gaz ionisé (11) comprenant en outre une unité de buse (31) qui forme une buse (31N)qui injecte des ions générés (CP) conjointement avec de l'air pressurisé (AK) ; une unité de chargement de particules fines (12) qui forme une région de mélange (MX) et une électrode de collecte (42) ; et une électrode supplémentaire (53) qui complète la collecte des ions suspendus (CPF). Un potentiel d'électrode supplémentaire (PV3) est généré à l'aide du circuit de source d'électricité d'électrode supplémentaire variable (240). Avec une différence de potentiel entre le potentiel d'électrode supplémentaire (PV3) et un potentiel d'électrode de collecte (PV1) qui est une tension de piège (Vt), le système (1) comprend en outre des moyens de détection d'indice (S54-S5C) pour dériver une tension de piège d'indice (Vt1-2) correspondant à une quantité d'ions suspendus d'échappement prédéterminée (CPFH), et un moyen de détermination (S5F) pour déterminer si celle-ci est supérieure à une tension autorisée (Vtmin).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
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European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)