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1. (WO2013161226) FINE PARTICLE SENSING SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/161226    International Application No.:    PCT/JP2013/002616
Publication Date: 31.10.2013 International Filing Date: 18.04.2013
IPC:
G01N 15/06 (2006.01), G01N 27/60 (2006.01)
Applicants: NGK SPARK PLUG CO., LTD. [JP/JP]; 14-18,Takatsuji-cho, Mizuho-ku, Nagoya-shi, Aichi 4678525 (JP)
Inventors: JANKA, Kauko; (JP)
Agent: AOKI, Noboru; C/O NGK SPARK PLUG CO., LTD., 2808 Oaza-Iwasaki, Komaki-shi, Aichi 4858510 (JP)
Priority Data:
2012-097567 23.04.2012 JP
Title (EN) FINE PARTICLE SENSING SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE DÉTECTION DE PARTICULES FINES
(JA) 微粒子検知システム
Abstract: front page image
(EN)Provided is a fine particle sensing system with which it is possible to appropriately sense a quantity of fine particles in a gas, and with which, when an injection quantity of pressurized air and ions declines owing to such as a nozzle being jammed, appropriate sensing is possible. A fine particle sensing system (1) which senses a quantity of a fine particle (S) in a gas (EG) comprises a sensing unit (10), circuits (210, 240, 230), and a pressurized air port (70). The sensing unit (10) further comprises: an ionized gas injection source (11) further comprising a nozzle unit (31) which forms a nozzle (31N) which injects generated ions (CP) together with pressurized air (AK); a fine particle charging unit (12) which forms a mixing region (MX) and a collection electrode (42); and a supplementary electrode (53) which supplements the collection of suspended ions (CPF). A supplementary electrode potential (PV3) is generated with the variable supplementary electrode power source circuit (240). With a potential difference between the supplementary electrode potential (PV3) and a collection electrode potential (PV1) being a trap voltage (Vt), the system (1) further comprises index sensing means (S54-S5C) for deriving an index trap voltage (Vt1-2) corresponding to a pre-determined exhaust suspended ion (CPFH) quantity, and a determination means (S5F) for determining whether same is greater than an allowed voltage (Vtmin).
(FR)L'invention concerne un système de détection de particules fines grâce auquel il est possible de détecter de manière appropriée une quantité de particules fines dans un gaz, et grâce auquel, lorsqu'une quantité d'injection d'air pressurisé et d'ions diminue en raison par exemple d'une buse qui se bouche, une détection appropriée est possible. Un système de détection de particules fines (1) qui détecte une quantité de particules fines (S) dans un gaz (EG) comprend une unité de détection (10), des circuits (210, 240, 230), et un orifice à air pressurisé (70). L'unité de détection (10) comprend en outre : une source d'injection de gaz ionisé (11) comprenant en outre une unité de buse (31) qui forme une buse (31N)qui injecte des ions générés (CP) conjointement avec de l'air pressurisé (AK) ; une unité de chargement de particules fines (12) qui forme une région de mélange (MX) et une électrode de collecte (42) ; et une électrode supplémentaire (53) qui complète la collecte des ions suspendus (CPF). Un potentiel d'électrode supplémentaire (PV3) est généré à l'aide du circuit de source d'électricité d'électrode supplémentaire variable (240). Avec une différence de potentiel entre le potentiel d'électrode supplémentaire (PV3) et un potentiel d'électrode de collecte (PV1) qui est une tension de piège (Vt), le système (1) comprend en outre des moyens de détection d'indice (S54-S5C) pour dériver une tension de piège d'indice (Vt1-2) correspondant à une quantité d'ions suspendus d'échappement prédéterminée (CPFH), et un moyen de détermination (S5F) pour déterminer si celle-ci est supérieure à une tension autorisée (Vtmin).
(JA)ガス中の微粒子の量を適切に検知することができるほか、ノズルが詰まるなどして、圧縮空気とイオンの噴射量が減少した場合について、適切に検知できる微粒子検知システムを提供する。ガスEG中の微粒子Sの量を検知する微粒子検知システム1は、検知部10、回路210,240,230、圧縮空気ポート70を備え、検知部10は、生成したイオンCPを圧縮空気AKと共に噴射するノズル31Nをなすノズル部31を有するイオン気体噴射源11、混合領域MX及び捕集極42をなす微粒子帯電部12、浮遊イオンCPFの捕集を補助する補助電極53を有する。補助電極電位PV3は、可変補助電極電源回路240で生成される。補助電極電位PV3と捕集極電位PV1の電位差をトラップ電圧Vtとしたとき、システム1は、予め定めた排出浮遊イオンCPFHの量に対応する指標トラップ電圧Vt1-2を求める指標検知手段S54~S5Cと、これが許容電圧Vtminより大きいか否かを判断する判断手段S5Fと、を備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)