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1. (WO2013157448) SEMICONDUCTOR PHOTODETECTION DEVICE AND RADIATION DETECTION APPARATUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/157448    International Application No.:    PCT/JP2013/060735
Publication Date: 24.10.2013 International Filing Date: 09.04.2013
IPC:
H04N 5/32 (2006.01), A61B 6/00 (2006.01), G01T 1/20 (2006.01), H04N 5/341 (2011.01)
Applicants: SONY CORPORATION [JP/JP]; 1-7-1, Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075 (JP)
Inventors: NISHIHARA Toshiyuki; (JP).
SUMI Hirofumi; (JP)
Agent: INAMOTO Yoshio; Nishishinjukukimuraya Building 9F, 5-25, Nishi-Shinjuku 7-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023 (JP)
Priority Data:
2012-096651 20.04.2012 JP
2013-045126 07.03.2013 JP
Title (EN) SEMICONDUCTOR PHOTODETECTION DEVICE AND RADIATION DETECTION APPARATUS
(FR) DISPOSITIF DE PHOTODÉTECTION À SEMI-CONDUCTEUR ET APPAREIL DE DÉTECTION D'UN RAYONNEMENT
(JA) 半導体光検出装置および放射線検出装置
Abstract: front page image
(EN)The present technology relates to a semiconductor photodetection device and a radiation detection apparatus, whereby time resolution of photodetection can be improved, and radiation energy discrimination and photon counting are made possible. This radiation detection apparatus has a scintillator, a radiation detecting unit, and an exposure period adjusting unit. When radiation is inputted, the scintillator generates scintillation light having light intensity corresponding to radiation energy, and supplies photons of the scintillation light to a plurality of pixels, respectively. Every time the pixels are exposed for an exposure period to the scintillation light, the radiation detecting unit detects, on the basis of the number of photons supplied within the exposure period, whether radiation is inputted or not. An exposure period adjusting unit adjusts the exposure period on the basis of input frequency of the detected radiation.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de photodétection à semi-conducteur et un appareil de détection d'un rayonnement qui permettent d'améliorer la résolution temporelle de la photodétection et rendent possible une discrimination énergétique du rayonnement et un comptage des photons. L'appareil de détection d'un rayonnement selon l'invention comprend un scintillateur, une unité de détection du rayonnement et une unité d'ajustement de la période d'exposition. Lorsqu'un rayonnement est entré, le scintillateur génère une lumière de scintillation dont l'intensité lumineuse correspond à l'énergie du rayonnement, et délivre les photons de la lumière de scintillation respectivement à une pluralité de pixels. Chaque fois que les pixels sont exposés à la lumière de scintillation pendant une période d'exposition, l'unité de détection du rayonnement détecte, sur la base du nombre de photons délivrés pendant la période d'exposition, si le rayonnement est entré ou non. L'unité d'ajustement de la période d'exposition ajuste la période d'exposition sur la base de la fréquence d'entrée du rayonnement détecté.
(JA) 本技術は、光検出の時間分解能を高めることが可能で、放射線のエネルギー分別とフォトンカウンティングを可能にする半導体光検出装置および放射線検出装置に関する。 放射線検出装置は、シンチレータ、放射線検出部および露光期間調整部を有する。シンチレータは、放射線が入射されると放射線のエネルギーに応じた光強度のシンチレーション光を生成してシンチレーション光の光子を複数の画素の各々に供給する。放射線検出部は、シンチレーション光により複数の画素が露光期間に亘って露光されるたびに露光期間内に供給された光子の数から放射線が入射されたか否かを検出する。露光期間調整部は、検出された放射線の入射頻度に基づいて露光期間を調整する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)