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1. (WO2013146419) PHOTOMETRIC APPARATUS AND MEASUREMENT CONTROL PROGRAM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2013/146419 International Application No.: PCT/JP2013/057657
Publication Date: 03.10.2013 International Filing Date: 18.03.2013
IPC:
G01J 1/42 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
J
MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
1
Photometry, e.g. photographic exposure meter
42
using electric radiation detectors
Applicants:
山野井 勇太 YAMANOI Yuta [JP/JP]; JP (US)
八代 武大 YASHIRO Takehiro [JP/JP]; JP (US)
石田 耕一 ISHIDA Kouichi [JP/JP]; JP (US)
越智 圭三 OCHI Keizou [JP/JP]; JP (US)
松原 範明 MATSUBARA Noriaki [JP/JP]; JP (US)
横田 聡 YOKOTA Satoshi [JP/JP]; JP (US)
コニカミノルタ株式会社 Konica Minolta, Inc. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番2号 2-7-2 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1007015, JP
Inventors:
山野井 勇太 YAMANOI Yuta; JP
八代 武大 YASHIRO Takehiro; JP
石田 耕一 ISHIDA Kouichi; JP
越智 圭三 OCHI Keizou; JP
松原 範明 MATSUBARA Noriaki; JP
横田 聡 YOKOTA Satoshi; JP
Agent:
吉竹 英俊 YOSHITAKE Hidetoshi; 大阪府大阪市中央区城見1丁目4番70号住友生命OBPプラザビル10階 10th floor, Sumitomo-seimei OBP Plaza Bldg., 4-70, Shiromi 1-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5400001, JP
Priority Data:
2012-07595229.03.2012JP
Title (EN) PHOTOMETRIC APPARATUS AND MEASUREMENT CONTROL PROGRAM
(FR) APPAREIL PHOTOMÉTRIQUE ET PROGRAMME DE COMMANDE DE MESURE
(JA) 測光装置及び測定制御用プログラム
Abstract:
(EN) A photometric apparatus (100) is provided with: a light sensor unit (20), which receives light, and which performs measurement operations for acquiring predetermined photometric data relating to the received light; a tilt sensor unit (10), which detects a tilt angle relating to a predetermined reference surface; and a measurement control unit (30), which determines the tilt state of the light sensor unit (20) on the basis of the tilt angle, and which performs measurement control processing whereby the photometric data acquired by means of the light sensor unit (20) is accepted as effective photometric data when the tilt state meets predetermined conditions. Consequently, the photometric apparatus, whereby the highly accurate effective photometric data in a desired measurement state can be automatically obtained, and a measurement control program are provided.
(FR) La présente invention porte sur un appareil photométrique (100) qui comporte : une unité de capteur de lumière (20), qui reçoit une lumière, et qui réalise des opérations de mesure pour acquérir des données photométriques prédéterminées concernant la lumière reçue ; une unité de capteur d'inclinaison (10), qui détecte un angle d'inclinaison concernant une surface de référence prédéterminée ; et une unité de commande de mesure (30), qui détermine l'état d'inclinaison de l'unité de capteur de lumière (20) sur la base de l'angle d'inclinaison, et qui réalise un traitement de commande de mesure par lequel les données photométriques acquises au moyen de l'unité de capteur de lumière (20) sont acceptées en tant que données photométriques effectives lorsque l'état d'inclinaison satisfait des conditions prédéterminées. Par conséquent, la présente invention porte sur un appareil photométrique, par lequel les données photométriques efficaces hautement précises dans un état de mesure désiré peuvent être obtenues de manière automatique, et un programme de commande de mesure.
(JA)  測光装置100は、光を受光して、受光した光に関する所定の測光データを取得する測定動作を行う光センサ部20と、所定の基準面に関する傾斜角度を検知する傾斜センサ部10と、傾斜角度に基づき光センサ部20の傾斜状態を判定し、該傾斜状態が所定の条件を満足する際に光センサ部20が取得した該測光データを有効測光データとする測定制御処理を実行する測定制御部30とを備える。これにより、自動的に精度の高い、所望の計測状態における有効測光データを得ることが可能な測光装置及び測定制御用プログラムを提供する。
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Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)