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Pub. No.: WO/2013/146003 International Application No.: PCT/JP2013/054867
Publication Date: 03.10.2013 International Filing Date: 26.02.2013
IPC:
G01R 33/02 (2006.01) ,G01R 29/08 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33
Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
02
Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
29
Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/-G01R27/135
08
Measuring electromagnetic field characteristics
Applicants: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.[JP/JP]; 10-1, Higashikotari 1-chome, Nagaokakyo-shi, Kyoto 6178555, JP
Inventors: SHIMIZU Noriko; JP
ICHIMURA Takashi; JP
AZUMA Takahiro; JP
Agent: UEDA Kazuhiro; Kudan Koie Bldg. 7F, 7-13, Kudanminami 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1020074, JP
Priority Data:
2012-07707929.03.2012JP
Title (EN) MAGNETIC FIELD PROBE
(FR) SONDE DE CHAMP MAGNÉTIQUE
(JA) 磁界プローブ
Abstract:
(EN) The detecting section (20) of a magnetic field probe (1) is provided with: a first wiring pattern (31), which is formed on the first surface (16) of a multilayer substrate (10), and which has a predetermined tilt (φ) with respect to the direction of the axis line (3) of the magnetic field probe (1); a second wiring pattern (32), which is formed on a second surface (17), and which has a predetermined tilt (φ) with respect to the direction of the axis line (3); and a first through via hole (41), which penetrates the multilayer substrate (10) in the thickness direction, and which connects the leading end portion (31b) of the first wiring pattern (31), and the leading end portion (32b) of a second wiring pattern (32) to each other. The rear end portion (31a) of the first wiring pattern (31) is connected to a conductor pattern (84) that constitutes a strip line (80), and the rear end portion (32b) of the second wiring pattern (32) is connected to ground patterns (82, 83), which constitute the strip line (80).
(FR) L'invention concerne la section de détection (20) d'une sonde de champ magnétique (1), laquelle section comprend : un premier motif de câblage (31), qui est formé sur la première surface (16) d'un substrat multicouche (10), et qui a une inclinaison prédéterminée (φ) par rapport à la direction de la ligne d'axe (3) de la sonde de champ magnétique (1); un second motif de câblage (32) qui est formé sur une seconde surface (17), et qui a une inclinaison prédéterminée (φ) par rapport à la direction de la ligne d'axe (3); et un premier trou d'interconnexion traversant (41) qui pénètre à travers le substrat multicouche (10) dans la direction de l'épaisseur, et qui connecte la partie d'extrémité avant (31b) du premier motif de câblage (31), et la partie d'extrémité avant (32b) d'un second motif de câblage (32) l'une avec l'autre. La première partie d'extrémité arrière (31a) du premier motif de câblage (31) est connectée à un motif conducteur (84) qui constitue une ligne ruban (80), et la partie d'extrémité arrière (32b) du second motif de câblage (32) est connectée à des motifs de masse (82, 83), qui constituent la ligne ruban (80).
(JA)  磁界プローブ(1)の検出部(20)は、多層基板(10)の第1の面(16)に形成され、磁界プローブ(1)の軸線(3)方向に対して所定の傾きφを持った第1配線パターン(31)と、第2の面(17)に形成され、軸線(3)方向に対して所定の傾きφを持った第2配線パターン(32)と、多層基板(10)を厚み方向に貫通し、第1配線パターン(31)の先端部(31b)と第2配線パターン(32)の先端部(32b)とを接続する第1貫通ビア(41)とを備える。第1配線パターン(31)の後端部(31a)は、ストリップ線路(80)を構成する導体パターン(84)に接続され、第2配線パターン(32)の後端部(32b)は、ストリップ線路(80)を構成するグランドパターン(82,83)に接続される。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)