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1. (WO2013145836) MICROCHIP OPTICAL MEASURING DEVICE AND OPTICAL POSITION ADJUSTMENT METHOD FOR SAID DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2013/145836 International Application No.: PCT/JP2013/051800
Publication Date: 03.10.2013 International Filing Date: 28.01.2013
IPC:
G01N 15/14 (2006.01) ,G01N 21/49 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01) ,G01N 37/00 (2006.01)
Applicants: SONY CORPORATION[JP/JP]; 1-7-1 Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075, JP
Inventors: MURAKI Yosuke; JP
OTSUKA Fumitaka; JP
Agent: WATANABE Kaoru; KUNPU INTELLECTUAL PROPERTY AGENTS, SUCCESS-SENGAKUJI BLDG. 3F, 2-20-29, Takanawa, Minato-ku, Tokyo 1080074, JP
Priority Data:
2012-08047230.03.2012JP
Title (EN) MICROCHIP OPTICAL MEASURING DEVICE AND OPTICAL POSITION ADJUSTMENT METHOD FOR SAID DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE DE MICROPUCE ET PROCÉDÉ D'AJUSTEMENT DE POSITION OPTIQUE POUR LEDIT DISPOSITIF
(JA) マイクロチップ型光学測定装置及び該装置における光学位置調整方法
Abstract: front page image
(EN) Provided is a microchip optical measuring device that is capable of automatically adjusting, in a highly accurate manner, the position of a microchip relative to the optical axis of a laser. The microchip optical measuring device is provided with: an irradiation detection unit that detects light produced by projecting a laser on a microchip; a position adjustment unit that changes the relative position of the microchip with respect to the irradiation detection unit; and a control unit that outputs, to the position adjustment unit, a signal to move toward a position where an integrated value or average value of the detected intensity of the aforementioned light in a predetermined region becomes large.
(FR) La présente invention porte sur un dispositif de mesure optique de micropuce qui est apte à ajuster de manière automatique, d'une manière hautement précise, la position d'une micropuce par rapport à l'axe optique d'un laser. Le dispositif de mesure optique de micropuce comporte : une unité de détection d'irradiation qui détecte une lumière produite par projection d'un laser sur une micropuce; une unité d'ajustement de position qui change la position relative de la micropuce par rapport à l'unité de détection d'irradiation; et une unité de commande qui délivre en sortie, à l'unité d'ajustement de position, un signal pour se déplacer vers une position où une valeur intégrée ou une valeur moyenne de l'intensité détectée de la lumière mentionnée ci-dessus dans une région prédéterminée devient grande.
(JA)  レーザの光軸に対するマイクロチップの位置調整を自動で高精度に行うことが可能なマイクロチップ型光学測定装置を提供すること。 マイクロチップにレーザを照射して発生する光を検出する照射検出部と、該照射検出部に対する前記マイクロチップの相対位置を変更する位置調整部と、予め設定された領域において前記光の検出強度の積算値又は平均値が大きくなる位置への移動信号を前記位置調整部に出力する制御部と、を備えるマイクロチップ型光学測定装置。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)