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1. (WO2013145040) NAIL TIP MANUFACTURING SYSTEM AND NAIL TIP MANUFACTURING METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/145040    International Application No.:    PCT/JP2012/006560
Publication Date: 03.10.2013 International Filing Date: 12.10.2012
Chapter 2 Demand Filed:    30.01.2013    
IPC:
A45D 31/00 (2006.01)
Applicants: PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP)
Inventors: HAJI, Hiroshi; .
HIGASHIDA, Toshitaka; .
KAWAMATA, Masahiro;
Agent: NII, Hiromori; c/o NII Patent Firm, 6F, Tanaka Ito Pia Shin-Osaka Bldg.,3-10, Nishi Nakajima 5-chome, Yodogawa-ku, Osaka-city, Osaka 5320011 (JP)
Priority Data:
2012-081268 30.03.2012 JP
Title (EN) NAIL TIP MANUFACTURING SYSTEM AND NAIL TIP MANUFACTURING METHOD
(FR) SYSTÈME DE FABRICATION DE POINTES DE CLOUS ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE POINTES DE CLOUS
(JA) ネイルチップ製造システム、ネイルチップ製造方法
Abstract: front page image
(EN)A nail tip manufacturing system (100) manufactures nail tips (202) and is provided with the following: a shape information acquisition unit (121) that acquires three-dimensional shape information by measuring the three-dimensional surface shape of a nail or through input of surface shape information; a development information creation unit (122) that creates, on the basis of the three-dimensional shape information, expansion information that shows the surface shape in a flat expanded shape; a design acquisition unit (112) that acquires design information that shows a three-dimensional design for the nail tip (202); a matching unit (113) that creates matching information that matches design information to expansion information; and a nail tip formation unit (111) that forms a design on the basis of the matching information on a flat, flexible resin sheet (201) and cuts or partially cuts the sheet (201).
(FR)Système de fabrication de pointes de clous (100) permettant de fabriquer des pointes de clous (202), pourvu des éléments suivants : une unité d'acquisition d'informations de forme (121) qui acquiert des informations de forme en trois dimensions en mesurant la forme de la surface tridimensionnelle d'un clou ou par l'intermédiaire de l'entrée d'informations de forme de surface ; une unité de création d'informations de développement (122) qui crée, sur la base des informations de forme en trois dimensions, des informations d'expansion qui montrent la forme de surface dans une forme expansée plate ; une unité d'acquisition de dessin (112) qui acquiert des informations de dessin qui montrent un dessin en trois dimensions pour la pointe de clou (202) ; une unité de mise en correspondance (113) qui crée des informations de mise en correspondance qui fait correspondre les informations de dessin aux informations d'expansion ; et une pointe de clou (111) qui forme un dessin sur la base des informations de mise en correspondance sur un film de résine flexible (201) et coupe ou découpe partiellement le film (201).
(JA)ネイルチップ(202)を製造するネイルチップ製造システム(100)であって、爪の立体的な表面形状を測定、または、表面形状の情報の入力により立体形状情報を取得する形状情報取得部(121)と、表面形状を平面に展開した形状を示す展開情報を立体形状情報に基づき作成する展開情報作成部(122)と、ネイルチップ(202)の立体的なデザインを示すデザイン情報を取得するデザイン取得部(112)と、展開情報にデザイン情報をマッチングさせたマッチング情報を作成するマッチング部(113)と、平坦で可撓性のある樹脂製のシート(201)にマッチング情報に基づきデザインを形成させ、かつ、シート(201)を切断、または、半切断させるネイルチップ形成部(111)とを備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)