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1. (WO2013145020) TIME DOMAIN SPECTROSCOPIC DEVICE AND TIME DOMAIN SPECTROSCOPIC ANALYSIS SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/145020    International Application No.:    PCT/JP2012/002221
Publication Date: 03.10.2013 International Filing Date: 30.03.2012
IPC:
G01N 21/35 (2006.01)
Applicants: HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP) (For All Designated States Except US).
NAKAMURA, Takahiro [JP/JP]; (JP) (For US Only).
SHIRAMIZU, Nobuhiro [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: NAKAMURA, Takahiro; (JP).
SHIRAMIZU, Nobuhiro; (JP)
Agent: INOUE, Manabu; c/o HITACHI, LTD., 6-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008220 (JP)
Priority Data:
Title (EN) TIME DOMAIN SPECTROSCOPIC DEVICE AND TIME DOMAIN SPECTROSCOPIC ANALYSIS SYSTEM
(FR) DISPOSITIF SPECTROSCOPIQUE DANS LE DOMAINE TEMPOREL ET SYSTÈME D'ANALYSE SPECTROSCOPIQUE DANS LE DOMAINE TEMPOREL
(JA) 時間領域分光装置および時間領域分光分析システム
Abstract: front page image
(EN)Disclosed are a time domain spectroscopic device and time domain spectroscopic analysis system whereby high-speed analysis can be achieved with improved SN ratio and without reducing the number of integrations. A time domain spectroscopic device comprises: a branching section that branches an input pulse beam; a variable delay element that delays the timing of one of these pulse beams branched by the branching section; an electromagnetic wave generator that converts the other aforementioned pulse beam branched by the branching section to an electromagnetic wave; a detector that detects measurement data from the pulses transmitted through a measurement subject that receives electromagnetic waves directed thereon from the electromagnetic wave generator and the pulses that are output from the variable delay element; and a comparator that compares the phase difference of the pulse beam prior to input to the electromagnetic wave generator and the pulse beam that was output from the variable delay element. The result obtained by the comparator is fed back to the variable delay element.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de spectroscopie dans le domaine temporel et un système d'analyse spectroscopique dans le domaine temporel, une analyse à grande vitesse pouvant être réalisée avec un meilleur rapport signal/bruit et sans réduire le nombre d'intégrations. Un dispositif spectroscopique dans le domaine temporel comprend : une section de dérivation qui dérive un faisceau d'impulsion d'entrée ; un élément de retard variable qui retarde la synchronisation de l'un de ces faisceaux d'impulsions dérivé par la section de dérivation ; un générateur d'ondes électromagnétiques qui convertit l'autre faisceau d'impulsion mentionné précédemment dérivé par la section de dérivation vers une onde électromagnétique ; un détecteur qui détecte des données de mesure à partir des impulsions transmises à travers un objet de mesure qui reçoit des ondes électromagnétiques dirigées sur celui-ci depuis le générateur d'ondes électromagnétiques et les impulsions qui sont émises depuis l'élément de retard variable ; et un comparateur qui compare la différence de phase du faisceau d'impulsions avant son entrée dans le générateur d'ondes électromagnétiques et le faisceau d'impulsions qui a été délivré en sortie par l'élément de retard variable. Le résultat obtenu par le comparateur est renvoyé à l'élément de retard variable.
(JA) SN比を向上させて積算回数を減らすことで高速に分析できる時間領域分光装置、ならびに時間領域分光分析システムを提供する。そのための構成として、例えば、時間領域分光装置であって、入力されたパルス光を分岐する分岐部と、前記分岐部で分岐された一方の前記パルス光のタイミングを遅延させる可変遅延器と、前記分岐部で分岐された他方の前記パルス光を電磁波へ変換する電磁波発生器と、前記電磁波発生器から照射された電磁波を受けた測定対象物を通過したパルスと、前記可変遅延器から出力された前記パルスとから、測定データを検出する検出器と、前記電磁波発生器に入力される前の前記パルス光と、前記可変遅延器から出力された前記パルス光との位相差を比較する比較器とを有し、前記比較器で得られた結果を前記可変遅延器にフィードバックすることを特徴とする。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)