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1. (WO2013144066) A METHOD FOR MONITORING A STRUCTURE BASED ON MEASUREMENTS OF A PLURALITY OF SENSORS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/144066    International Application No.:    PCT/EP2013/056222
Publication Date: 03.10.2013 International Filing Date: 25.03.2013
IPC:
G01M 5/00 (2006.01), G05B 23/02 (2006.01)
Applicants: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2 80333 München (DE)
Inventors: KOZIONOV, Alexey; (RU).
PYAYT, Alexander; (RU).
MOKHOV, Ilya; (RU)
Priority Data:
12161410.1 27.03.2012 EP
12168249.6 16.05.2012 EP
Title (EN) A METHOD FOR MONITORING A STRUCTURE BASED ON MEASUREMENTS OF A PLURALITY OF SENSORS
(FR) PROCÉDÉ PERMETTANT DE SURVEILLER UNE STRUCTURE SUR LA BASE DE MESURES D'UNE PLURALITÉ DE CAPTEURS
Abstract: front page image
(EN)The invention refers to a method for monitoring a structure (1) based on measurements of a plurality of sensors (S1, S2, S3), where each sensor (S1, S2, S3) is installed at the structure (1) and provides measured values (x1, x2, x3) at a sampling frequency. In the method of the invention, measured values (x1, x2, x3) of each sensor (S1, S2, S3) are subjected to a Short-time Fourier Transform (STFT), resulting at a corresponding predetermined point in time (ti) for each sensor (S1, S2, S3) in phase values (ø11, ø3k) for each predetermined base frequency out of a number of predetermined base frequencies (BF) of each sensor (S1, S2, S3). In a next step, phase delays (τ 12, τ 13, τ 23) between the phase values (ø11,..., ø3k) of pairs of sensors (S1, S2, S3) are calculated for one or more of the predetermined base frequencies (BF) of all sensors (S1, S2, S3). Eventually, the state of the structure (1) is assigned to a normal operation condition or an abnormal operation condition based on the calculated phase delays (τ 12, τ 13, τ 23) of said one or more of the predetermined base frequencies (BF).
(FR)L'invention concerne un procédé permettant de surveiller une structure (1) sur la base des mesures d'une pluralité de capteurs (S1, S2, S3), chaque capteur (S1, S2, S3) étant installé sur la structure (1) et fournissant des valeurs mesurées (x1, x2, x3) à une fréquence d'échantillonnage. Dans le procédé selon l'invention, les valeurs mesurées (x1, x2, x3) de chaque capteur (S1, S2, S3) sont soumises à une transformée de Fourier à court terme (TFCT), résultant à un point préétabli dans le temps (ti) correspondant pour chaque capteur (S1, S2, S3) en des valeurs de phase (ø11, ø3k) pour chaque fréquence de base préétablie parmi un certain nombre de fréquences de base (FB) préétablies de chaque capteur (S1, S2, S3). Dans une étape suivante, des retards de phase (τ 12, τ 13, τ 23) entre les valeurs de phase (ø11,..., ø3k) de paires de capteurs (S1, S2, S3) sont calculés pour une ou plusieurs des fréquences de base (FB) préétablies de tous les capteurs (S1, S2, S3). Finalement, l'état de la structure (1) est assigné à une condition de fonctionnement normal ou à une condition de fonctionnement anormal sur la base des retards de phase (τ 12, τ 13, τ 23) calculés desdites une ou plusieurs des fréquences de base (FB) préétablies.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)