(EN) The invention relates to a system for measuring a zone of separation in a substrate. This system (2) for measuring the propagation of a zone C of separation between a first portion (4) and a second portion (5) of at least one substrate (6) comprises: a module (10) for emitting at least two incident beams Fi each of which illuminates a separate point on the substrate (6), the at least two incident beams Fi being able to pass through the first portion (4) and the zone C of separation and meet the second portion (5) in such a way that each of them generates at least one first emergent beam Fe originating from the interface between the first portion (4) and the zone C of separation, and at least one second emergent beam Fe originating from the interface between the zone C of separation and the second portion (5); a detecting module (8) for detecting light intensity values resulting from interference between the first and second emergent beams Fe; and a computer (11) for determining the conditions of the propagation of the zone C of separation.
(FR) Ce système de mesure (2) de la propagation d'une zone d'écartement C entre une première portion (4) et une deuxième portion (5) d'au moins un substrat (6) comprend : - un module d'émission (10) d'au moins deux faisceaux incidents Fi illuminant chacun un point distinct du substrat (6), les au moins deux faisceaux incidents Fi pouvant traverser la première portion (4), la zone d'écartement C et rencontrer la deuxième portion (5), de manière à générer chacun au moins un premier faisceau émergent Fe provenant de l'interface entre la première portion (4) et la zone d'écartement C, et au moins un deuxième faisceau émergent Fe provenant de l'interface entre la zone d'écartement C et la deuxième portion (5), - un module de détection (8) pour détecter les valeurs d'intensité lumineuse de l'interférence entre les premier et deuxième faisceaux émergents Fe, - un calculateur (11) pour déterminer les conditions de la propagation de la zone d'écartement C.