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1. (WO2013126612) ELECTRICAL TEST DEVICE AND METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/126612    International Application No.:    PCT/US2013/027195
Publication Date: 29.08.2013 International Filing Date: 21.02.2013
IPC:
G01R 31/02 (2006.01)
Applicants: POWER PROBE, INC. [US/US]; 760 Challenger Street Brea, California 92821 (US)
Inventors: WHISENAND, Jeff; (US).
CRUZ, Randy; (US)
Agent: O'NEILL, Sean; 1001 Avenida Pico Suite C500 San Clemente, California 92673 (US)
Priority Data:
13/404,644 24.02.2012 US
Title (EN) ELECTRICAL TEST DEVICE AND METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ESSAI ÉLECTRIQUE
Abstract: front page image
(EN)An electrical test device may include a power supply, a conductive probe element, and a spectral analysis block. The power supply may be connected to an external power source. The probe element may be configured to be placed in contact with an electrical system under test and apply an input signal containing current for measuring at least one parameter of the electrical system. The spectral analysis block may be connected to the probe element and may be configured to receive an output signal from the electrical system in response to the application of the current to the electrical system. The spectral analysis block may be configured to analyze frequency spectra of the output signal and detect a broadband increase in energy of the frequency spectra above a predetermined energy threshold. The broadband increase in energy may be representative of the occurrence of arcing in the electrical system.
(FR)La présente invention a trait à un dispositif d'essai électrique qui peut inclure un bloc d'alimentation, un élément de sonde conducteur et un bloc d'analyse spectrale. Le bloc d'alimentation peut être connecté à une source extérieure d'énergie. L'élément de sonde conducteur peut être connecté au bloc d'alimentation. L'élément de sonde peut être placé de manière à être en contact avec un système électrique qui est soumis à un essai et il peut appliquer un signal d'entrée qui contient le courant nécessaire pour mesurer au moins un paramètre du système électrique. Le bloc d'analyse spectrale peut être connecté à l'élément de sonde et recevoir un signal de sortie en provenance du système électrique en réponse à l'application du courant sur le système électrique. Le bloc d'analyse spectrale peut analyser les spectres de fréquences du signal de sortie et détecter une augmentation de large bande de l'énergie des spectres de fréquences au-dessus d'un seuil d'énergie prédéterminé. L'augmentation de large bande de l'énergie peut être représentative de l'occurrence d'une formation d'arc dans le système électrique.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)