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1. (WO2013125124) METHOD FOR DETECTING TARGET PARTICLES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2013/125124 International Application No.: PCT/JP2012/081350
Publication Date: 29.08.2013 International Filing Date: 04.12.2012
IPC:
G01N 21/77 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01) ,G01N 21/78 (2006.01)
Applicants: OLYMPUS CORPORATION[JP/JP]; 43-2, Hatagaya 2-chome, Shibuya-ku, Tokyo 1510072, JP
Inventors: NAKATA Hidetaka; JP
Agent: TANAI Sumio; 1-9-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1006620, JP
Priority Data:
2012-03623422.02.2012JP
Title (EN) METHOD FOR DETECTING TARGET PARTICLES
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE PARTICULES CIBLES
(JA) 標的粒子の検出方法
Abstract: front page image
(EN) The present invention provides a method for detecting, with high sensitivity, target particles which are dispersed in a solution and move at random therein, said method being an indirect method using a light-emitting probe. This method includes: (a) preparing a solution that contains target particles and at least one light-emitting probe which is directly or indirectly bondable to the target particles; (b) forming a target particle/light -emitting probe composite in the solution; (c) separating the remaining light-emitting probe which is not bonded to the target particles from the resulting composite-containing solution to recover the composite; (d) dissociating the light-emitting probe from the composite to recover the resulting free light-emitting probe and the target particles separately; (e) repeating a step which comprises bonding the light-emitting probe again to the recovered target particles and then dissociating the light-emitting probe from the composite to recover the resulting free light-emitting probe and the target particles separately, and thereafter preparing one measurement-sample solution that contains all the recovered free light-emitting probe; and (f) calculating the number of molecules of the light-emitting probe contained in the measurement-sample solution.
(FR) La présente invention concerne un procédé de détection, avec une grande sensibilité, de particules cibles qui sont dispersées dans une solution et se déplacent aléatoirement dans celle-ci, ledit procédé étant un procédé indirect utilisant une sonde émettrice de lumière. Ce procédé comprend : (a) la préparation d'une solution qui contient des particules cibles et au moins une sonde émettrice de lumière qui peut se lier directement ou indirectement aux particules cibles ; (b) la formation d'un composite particule cible/sonde émettrice de lumière dans la solution ; (c) la séparation de la sonde émettrice de lumière restante qui n'est pas reliée aux particules cibles de la solution résultante contenant le composite afin de récupérer le composite ; (d) la dissociation de la sonde émettrice de lumière du composite afin de récupérer séparément la sonde émettrice de lumière libre résultante et les particules cibles ; (e) la répétition d'une étape qui comprend de nouveau la liaison de la sonde émettrice de lumière aux particules cibles récupérées, puis la dissociation de la sonde émettrice de lumière du composite afin de récupérer séparément la sonde émettrice de lumière libre résultante et les particules cibles, puis la préparation d'une solution d'échantillon de mesure qui contient toutes les sondes émettrices de lumière libres récupérées ; et (f) le calcul du nombre de molécules de la sonde émettrice de lumière contenues dans la solution d'échantillon de mesure.
(JA) 本発明は、溶液中に分散しランダムに運動する標的粒子を、発光プローブを用いて間接的に、かつ高感度に検出する方法を提供する。本発明においては、(a)標的粒子、及び前記標的粒子と直接的又は間接的に結合する1種類以上の発光プローブを含む溶液を調製し、(b)前記溶液中で、前記標的粒子と前記発光プローブとを含む複合体を形成させ、(c)前記複合体を含む溶液から前記標的粒子と結合していない発光プローブを分離して前記複合体を回収した後、(d)当該複合体から発光プローブを解離させて、遊離の発光プローブと標的粒子とを互いに分離して別個に回収し、(e)回収された標的粒子に再度発光プローブを結合させた後に解離させて、遊離の発光プローブと標的粒子とを互いに分離して回収する工程を繰り返した後、回収された遊離の発光プローブの全量を含む一の測定試料溶液を調製し、(f)当該測定試料溶液中の発光プローブの分子数を算出する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)