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1. (WO2013124663) MEASUREMENT APPARATUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/124663    International Application No.:    PCT/GB2013/050427
Publication Date: 29.08.2013 International Filing Date: 21.02.2013
Chapter 2 Demand Filed:    01.07.2013    
IPC:
G01N 27/00 (2006.01)
Applicants: KP TECHNOLOGY LTD. [GB/GB]; Milton House Thurso Road Wick Highland KW1 5LE (GB)
Inventors: BAIKIE, Iain; (GB)
Agent: SCINTILLA IP LLP; Suite 5, Claymore House 145 Kilmarnock Road Glasgow G41 3JA (GB)
Priority Data:
1203186.0 24.02.2012 GB
Title (EN) MEASUREMENT APPARATUS
(FR) APPAREIL DE MESURE
Abstract: front page image
(EN)A measurement apparatus for surface analysis carried out in a gaseous environment such as air comprises a measurement device capable of measuring a contact potential difference between a probe and a surface, and a light source that triggers photoelectric emission from a sample. The apparatus may operate in "dual" photoemission and contact potential difference (CPD) measurement modes.
(FR)La présente invention concerne un appareil de mesure destiné à une analyse de surface effectuée dans un environnement gazeux, tel que de l'air, comprenant un dispositif de mesure susceptible de mesurer une différence de potentiel de contact entre une sonde et une surface, et une source de lumière qui déclenche une émission photoélectrique à partir d'un échantillon. L'appareil peut fonctionner en modes mixtes de mesure par photoémission et de mesure de différence de potentiel de contact (CPD).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)