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1. (WO2013123932) MEASUREMENT DEVICE AND METHOD FOR MEASURING THE SURFACE MICROSTRUCTURE PROFILE OR THE ROUGHNESS OF A SURFACE OF A BODY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/123932    International Application No.:    PCT/DE2013/100036
Publication Date: 29.08.2013 International Filing Date: 04.02.2013
IPC:
G01B 7/34 (2006.01), G01B 7/00 (2006.01)
Applicants: BREITMEIER MESSTECHNIK GMBH [DE/DE]; Englerstraße 24 76275 Ettlingen (DE)
Inventors: BREITMEIER, Ulrich; (DE)
Agent: GEITZ TRUCKENMÜLLER LUCHT; Kirchheimer Straße 60 70619 Stuttgart (DE)
Priority Data:
10 2012 101 394.2 21.02.2012 DE
Title (DE) MESSGERÄT UND VERFAHREN ZUR MESSUNG DES OBERFLÄCHENMIKROSTRUKTURPROFILS ODER DER RAUHEIT EINER OBERFLÄCHE EINES KÖRPERS
(EN) MEASUREMENT DEVICE AND METHOD FOR MEASURING THE SURFACE MICROSTRUCTURE PROFILE OR THE ROUGHNESS OF A SURFACE OF A BODY
(FR) APPAREIL DE MESURE ET PROCÉDÉ POUR MESURER LE PROFIL DE LA MICROSTRUCTURE D'UNE SURFACE OU LA RUGOSITÉ D'UNE SURFACE D'UN CORPS
Abstract: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Messgerät (10.1) zur Messung eines Oberflächenmikrostrukturprofils oder der Rauheit einer Oberfläche (11) eines Körpers (12), mit einem stiftförmigen Gehäuse (13.1), das sich in Richtung seiner Gehäuselängsachse (15) über eine Gehäuselänge (21) erstreckt. In dem Gehäuse (13.1) ist ein zur Erfassung einer Auslenkung eines als Tastnadel (25) ausgebildeten Antastkörpers in einer Messrichtung (26) vorgesehenes Mess-System (30) und eine Lagerung (24.1) oder Aufhängung für die Tastnadel (25) angeordnet, die dort relativ zu dem Gehäuse (13.1) in der Messrichtung (26) beweglich gelagert ist. Die Tastnadel (25) erstreckt sich parallel zu der Gehäuselängsachse (15) und weist ein als Tastspitze (27) ausgebildetes Antastende auf. Im Bereich der Tastnadel (25) ist im Bereich eines Gehäuse-Endes (19) des Gehäuses (13.1) ein Andrück- und Abstützkörper (35.1) ausgebildet, über welchen das Messgerät (10.1) an der Oberfläche (11) andrückbar und abstützbar ist. Das Gehäuse (13.1) spannt zumindest in einem Gehäuseabschnitt (20) ausgehend von dem besagten Gehäuse-Ende (19) über seine gesamte Gehäuselänge (21), in einer senkrecht zu der Gehäuselängsachse (15) verlaufenden gedachten Querebene (29) betrachtet, einen maximalen Außendurchmesser (22) von kleiner oder gleich 20 mm auf. Die Tastnadel (25) ist im Wesentlichen innerhalb einer gedachten, parallel zu der Gehäuselängsachse (15) verlaufenden Projektion (23) des den maximalen Außendurchmesser (22) aufweisenden Gehäuseabschnitts (20) angeordnet.
(EN)The invention relates to a measurement device (10.1) for measuring a surface microstructure profile or the roughness of a surface (11) of a body (12), comprising a pin-shaped housing (13.1) that extends in the direction of the longitudinal housing axis (15) across a housing length (21). A measurement system (30) provided for detecting a deflection of a probing body constructed as a probe needle (25) in a measuring direction (26), and a bearing (24.1) or suspension, mounted so as to be moveable relative to the housing (13.1) in the measuring direction (26), for the probe needle (25) are arranged in the housing (13.1). The probe needle (25) extends parallel to the longitudinal housing axis (15) and has a probing end constructed as a probe tip (27). In the area of the probe needle (25), a pressing and supporting member (35.1), by means of which the measurement device (10.1) can be pressed against and supported on the surface (11), is formed in the area of one end (19) of the housing (13.1). At least in one housing section (20), starting from the aforementioned end (19) of the housing over the entire housing length (21), the housing (13.1) spans a maximum outside diameter (22) less than or equal to 20 mm in an imaginary transverse plane (29) running perpendicular to the longitudinal housing axis (15). The probe needle (25) is arranged substantially inside an imaginary projection (23), running parallel to the longitudinal housing axis (15), of the housing section (20) having the maximum outside diameter (22).
(FR)L'invention concerne un appareil de mesure (10.1) pour mesurer le profil de la microstructure d'une surface ou la rugosité d'une surface (11) d'un corps (12), comprenant un boîtier (13.1) en forme de tige, qui s'étend en direction de son axe longitudinal de boîtier (15) sur une longueur de boîtier (21). Dans le boîtier (13.1) est disposé un système de mesure (30) prévu pour la détection d'une déviation d'un corps de palpage, configuré comme aiguille de palpage (25), dans une direction de mesure (26), et un montage (24.1) ou une suspension pour l'aiguille de palpage (25), laquelle y est montée de manière mobile dans le dispositif de mesure (26) par rapport au boîtier (13.1). L'aiguille de palpage (25) s'étend parallèlement à l'axe longitudinal du boîtier (15) et comporte une extrémité de palpage configurée comme pointe de palpage (27). Dans la zone de l'aiguille de palpage (25), un corps de pression et de soutien (35.1) est réalisé au voisinage d'une extrémité (19) du boîtier (13.1) et permet d'appuyer et de plaquer l'appareil de mesure (10.1) sur la surface (11). Le boîtier (13.1) sous-tend, au moins dans une section de boîtier (20) partant de l'extrémité de boîtier susdite (19), sur l'ensemble de sa longueur de boîtier (21), considéré dans un plan transversal virtuel (29) s'étendant perpendiculairement à l'axe longitudinal du boîtier (15), un diamètre extérieur maximal (22) inférieur ou égal à 20 mm. L'aiguille de palpage (25) est disposée sensiblement à l'intérieur d'une projection (23) virtuelle, parallèlement à l'axe longitudinal du boîtier (15), de la section de boîtier (20) présentant le diamètre extérieur maximal (22).
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Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)