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1. (WO2013123342) DIAGNOSTICS FOR A PROGRAMMABLE LOGIC CONTROLLER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2013/123342 International Application No.: PCT/US2013/026368
Publication Date: 22.08.2013 International Filing Date: 15.02.2013
IPC:
G01R 31/317 (2006.01) ,G06F 11/22 (2006.01) ,G01R 31/02 (2006.01)
Applicants: WEDDLE, Robert Alan[US/US]; US (US)
ARCHER, James F.[US/US]; US (US)
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT[DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2 80333 Munich, DE (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW)
Inventors: WEDDLE, Robert Alan; US
ARCHER, James F.; US
Agent: EVENSEN, Andrea, L.; Siemens Corporation- Intellectual Property Dept. 170 Wood Avenue South Iselin, New Jersey 08830, US
Priority Data:
13/399,82617.02.2012US
Title (EN) DIAGNOSTICS FOR A PROGRAMMABLE LOGIC CONTROLLER
(FR) DIAGNOSTICS POUR CONTRÔLEUR LOGIQUE PROGRAMMABLE
Abstract: front page image
(EN) To reduce the cost and/or space occupied by diagnostic circuitry (34) in a module of a programmable logic controller (24) with multiple outputs (28), a multiplexer (26) connects the same diagnostic circuitry (34) to the different outputs (28). The outputs (28) are sequentially tested with the same circuitry (34). To limit stress on an output driver (36), an overload (30) condition may be tested while the driver is off. A different source (32) of power is applied to the output (28), and the results of the application are measured (56) for shorting to ground.
(FR) Selon l'invention, pour réduire le coût et/ou l'espace occupé par une circuiterie de diagnostic (34), dans un module d'un contrôleur logique programmable (24) comportant de multiples sorties (28), un multiplexeur (26) connecte la même circuiterie de diagnostic (34) aux différentes sorties (28). Les sorties (28) sont séquentiellement essayées avec la même circuiterie (34). Pour limiter les contraintes sur un circuit d'attaque de sortie (36), une condition de surcharge (30) peut être essayée pendant que le circuit d'attaque est arrêté. Une source d'alimentation (32) différente est appliquée à la sortie (28) et les résultats de l'application sont mesurés (56) pour un court-circuitage à la masse.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)