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1. (WO2013121964) DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING EXTERNAL APPEARANCE OF SUBSTRATE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/121964    International Application No.:    PCT/JP2013/052840
Publication Date: 22.08.2013 International Filing Date: 07.02.2013
IPC:
H05K 13/08 (2006.01), G01N 21/956 (2006.01), H05K 13/04 (2006.01)
Applicants: FUJI MACHINE MFG. CO., LTD. [JP/JP]; 19 Chausuyama, Yamamachi, Chiryu-shi, Aichi 4728686 (JP)
Inventors: AMANO Masashi; (JP).
OIKE Hiroshi; (JP).
SUZUKI Ikuo; (JP)
Agent: HIGASHIGUCHI Michiaki; HIGASHIGUCHI PATENT LAW FIRM, Room 402, SGNagoyaeki Bldg., 4-4-19, Noritakeshinmachi, Nishi-ku, Nagoya-shi, Aichi 4510051 (JP)
Priority Data:
2012-031370 16.02.2012 JP
Title (EN) DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING EXTERNAL APPEARANCE OF SUBSTRATE
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ POUR L'INSPECTION DE L'ASPECT EXTÉRIEUR D'UN SUBSTRAT
(JA) 基板外観検査機および基板外観検査方法
Abstract: front page image
(EN)The purpose of the present invention is to provide a device and method for inspecting the external appearance of a substrate, in which the inspection criteria can be updated according to the state in which a component is mounted. The device (2) for inspecting the external appearance of a substrate is arranged, on the production line (1), downstream from upstream-side devices (3-5), and inspects the external appearance of the substrate (8) using a predetermined inspection criteria. When a variation factor, which may cause poor external appearance of the substrate (8), occurs in an upstream-side device (3-5), the device (2) for inspecting the external appearance of a substrate inspects the external appearance of the substrate (8) using an inspection criteria that has been updated on the basis of the variation factor.
(FR)La présente invention vise à fournir un dispositif et un procédé pour l'inspection de l'aspect extérieur d'un substrat, selon lequel les critères d'inspection peuvent être mis à jour en conformité avec l'état dans lequel un composant est monté. Le dispositif (2) pour l'inspection de l'aspect extérieur d'un substrat est disposé, sur la chaîne de production (1), à l'aval de dispositifs en amont (3-5), et effectue l'inspection de l'aspect extérieur du substrat (8) au moyen de critères d'inspection prédéterminés. Lors de la survenance d'un facteur de variation dans un dispositif en amont (3-5), qui peut entraîner un aspect médiocre du substrat, le dispositif (2) pour l'inspection de l'aspect extérieur d'un substrat effectue l'inspection de l'aspect extérieur du substrat (8) au moyen de critères d'inspection qui ont été mis à jour en fonction du facteur de variation.
(JA) 部品の装着状態の実情に応じて検査基準を更新可能な基板外観検査機および基板外観検査方法を提供することを課題とする。 基板外観検査機(2)は、生産ライン(1)において、上流側装置(3~5)の下流側に配置され、所定の検査基準により基板(8)の外観を検査する。基板外観検査機(2)は、上流側装置(3~5)において、基板(8)の外観不良の原因となりうる変動要因が発生した場合、変動要因を基に更新された検査基準により、基板(8)の外観を検査する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)