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1. (WO2013121482) WAVELENGTH CONVERSION ELEMENT INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2013/121482 International Application No.: PCT/JP2012/007282
Publication Date: 22.08.2013 International Filing Date: 13.11.2012
IPC:
G01M 11/00 (2006.01) ,G02F 1/37 (2006.01) ,G01N 21/63 (2006.01)
Applicants: FUJI ELECTRIC CO., LTD.[JP/JP]; 1-1, Tanabeshinden, Kawasaki-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 2109530, JP
Inventors: OOTO, Masanori; JP
Agent: HAYAMI, Shinji; Gotanda TG Bldg. 9F, 9-2, Nishi-Gotanda 7-chome, Shinagawa-ku, Tokyo 1410031, JP
Priority Data:
2012-02839913.02.2012JP
Title (EN) WAVELENGTH CONVERSION ELEMENT INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION D'ÉLÉMENT DE CONVERSION DE LONGUEUR D'ONDE ET DISPOSITIF D'INSPECTION
(JA) 波長変換素子の検査方法及び検査装置
Abstract: front page image
(EN) An inspection device (10) comprises an SC (supercontinuum) light source (110), an optical system (light guide section: 154) and a spectroscopic section (130). The SC light source (110) generates supercontinuum light (SC light) as a first inspection light. The optical system (154) inputs the first inspection light to a wavelength conversion element (20). The wavelength conversion element (20) is a ferroelectric crystal comprising a polarization-reversed structure. The spectroscopic section (130) spectroscopically analyzes output light that has been output from the wavelength conversion element (20), and detects one or multiple first peak wavelengths.
(FR) Un dispositif d'inspection (10) comprend une source de lumière SC (fond supercontinuum) (110), un système optique (section de guidage de lumière : 154) et une section spectroscopique (130). La source de lumière SC (110) génère une lumière à fond supercontinuum (lumière SC) sous la forme d'une première lumière d'inspection. Le système optique (154) entre la première lumière d'inspection dans un élément de conversion de longueur d'onde (20). L'élément de conversion de longueur d'onde (20) est un cristal ferroélectrique comprenant une structure inversée en polarisation. La section spectroscopique (130) analyse de façon spectroscopique la lumière de sortie qui a été délivrée depuis l'élément de conversion de longueur d'onde (20), et détecte une ou plusieurs premières longueurs d'onde de crête.
(JA)  検査装置(10)は、SC(スーパーコンティニューム)光源(110)、光学系(導光部:154)、及び分光部(130)を有している。SC光源(110)は、第1検査用光として、スーパーコンティニューム光(SC光)を発生する。光学系(154)は、第1検査用光を波長変換素子(20)に入射させる。波長変換素子(20)は、分極反転構造を有する強誘電体結晶である。分光部(130)は、波長変換素子(20)から出射された出射光を分光分析して、一つまたは複数の第1ピーク波長を検出する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)