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1. (WO2013121013) DEVICE FOR MEASURING THE EMISSIVITY OR REFLECTIVITY OF A SURFACE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/121013    International Application No.:    PCT/EP2013/053112
Publication Date: 22.08.2013 International Filing Date: 15.02.2013
IPC:
G01J 5/00 (2006.01), G01J 5/08 (2006.01)
Applicants: UNIVERSITE PARIS-EST CRETEIL VAL DE MARNE [FR/FR]; 61, avenue du Général de Gaulle F-94010 Créteil Cedex (FR)
Inventors: MONCHAU, Jean-Pierre; (FR).
CANDAU, Yves; (FR).
IBOS, Laurent; (FR)
Agent: ESSELIN, Sophie; Marks & Clerk France Conseils en Propriété Industrielle Immeuble Visium 22 avenue Aristide Briand F-94117 Arcueil Cedex (FR)
Priority Data:
1251476 17.02.2012 FR
Title (EN) DEVICE FOR MEASURING THE EMISSIVITY OR REFLECTIVITY OF A SURFACE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE L'EMISSIVITE OU DE LA REFLECTIVITE D'UNE SURFACE
Abstract: front page image
(EN)The invention relates to a device for measuring the emissivity or reflectivity of a surface (A), including a chamber (B), a means for raising the temperature of said chamber so as to emit a flux of infrared radiation, which can be reflected by said surface, toward said surface, characterized in that the chamber is rotationally symmetrical and has a so-called measurement opening located in a plane substantially perpendicular to said axis of symmetry, wherein said opening is to be positioned opposite said surface, said device including: a first screen (C) on the inside of said chamber and having first solid portions and first openings; a second screen (D) on the inside of said chamber and having second solid portions and second openings, said screens being configured to intercept all the directions above said surface; a means for rotating at least one of said screens so as to modulate the flux reflected by said surface by means of the modulation of the incident flux received by said surface; a means for detecting the flux (DFe) emitted by said chamber, which is directed substantially radially toward said chamber; a means for detecting the flux (DFr) reflected by said surface, which is directed toward said plane substantially perpendicular to said axis of symmetry; and a means for analyzing said reflected flux.
(FR)L'invention concerne un dispositif pour mesurer l'émissivité ou la réflectivité d'une surface (A), comprenant une enceinte (B), des moyens pour élever la température de ladite enceinte de manière à ce qu'elle émette un flux de rayonnement infrarouge en direction de ladite surface pouvant être réfléchi par ladite surface, caractérisé en ce que : - l'enceinte présente une symétrie de révolution et une ouverture dite de mesure, située dans un plan sensiblement perpendiculaire audit axe de symétrie, ladite ouverture étant destinée à être positionnée en regard de ladite surface; ledit dispositif comprenant : - un premier écran interne (C) à ladite enceinte et présentant des premières parties pleines et des premières ouvertures; - un second écran interne (D) à ladite enceinte présentant des secondes parties pleines et des secondes ouvertures; - lesdits écrans étant configurés pour intercepter toutes les directions au dessus de ladite surface; - des moyens de mise en rotation d'au moins un desdits écrans de manière à moduler le flux réfléchi par ladite surface en raison de la modulation du flux incident reçu par ladite surface; - des moyens de détection du flux (DFe) émis par ladite enceinte, dirigés de manière sensiblement radiale en direction de ladite enceinte; - des moyens de détection du flux réfléchi (DFr) par ladite surface dirigés en direction dudit plan sensiblement perpendiculaire audit axe de symétrie; - des moyens d'analyse dudit flux réfléchi.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)