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Pub. No.:    WO/2013/118898    International Application No.:    PCT/JP2013/053150
Publication Date: 15.08.2013 International Filing Date: 08.02.2013
G01N 21/84 (2006.01)
Applicants: KOITO MANUFACTURING CO., LTD. [JP/JP]; 8-3, Takanawa 4-chome, Minato-ku, Tokyo 1088711 (JP)
Inventors: NAKAMURA Yasuo; (JP).
KOBAYASHI Norihiko; (JP)
Agent: SHIN-EI PATENT FIRM, P.C.; Toranomon East Bldg. 8F, 7-13, Nishi-Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050003 (JP)
Priority Data:
2012-024973 08.02.2012 JP
2013-013525 28.01.2013 JP
(JA) 検査照明装置
Abstract: front page image
(EN)Provided is an illuminating apparatus for inspection, wherein inspection accuracy does not easily deteriorate with respect to various surfaces. An illuminating apparatus (1) for inspection is used in an article surface inspection step wherein a surface state of an article (100) is inspected by observing a shape of the illuminating apparatus (1), said shape being formed by reflection from a surface of the article (100). The illuminating apparatus for inspection has: a semiconductor light emitting element (5) mounted on a substrate (4), and a light diffusing member (3), which covers the semiconductor light emitting element (5).
(FR)Cette invention concerne un appareil d'éclairage pour inspection, permettant d'obtenir une précision d'inspection qui ne se détériore pas facilement en fonction des diverses surfaces. L'appareil d'éclairage (1) pour inspection ci-décrit est utilisé dans une étape d'inspection de surface d'article, l'état de surface dudit article (100) étant inspecté par observation d'une forme de l'appareil d'éclairage (1), qui est générée par la réflexion par une surface de l'article (100), l'appareil d'éclairage pour inspection comprenant : un élément électroluminescent à semi-conducteurs (5) monté sur un substrat (4), et un élément de diffusion de lumière (3), qui couvre ledit élément électroluminescent à semi-conducteurs (5).
(JA) 様々な表面においても検査精度が落ちにくい検査照明装置を提供する。 物品100の表面で反射された検査照明装置1の形状を観察することによって物品100の表面状態を検査する、物品の表面検査工程で用いられる検査照明装置1であって、基板4に搭載された半導体発光素子5と、半導体発光素子5を覆う光拡散部材3と、を有する検査照明装置を提供する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)