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1. (WO2013115402) INK DRYING METHOD AND INK DRYING DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/115402    International Application No.:    PCT/JP2013/052517
Publication Date: 08.08.2013 International Filing Date: 04.02.2013
IPC:
B05D 3/02 (2006.01), B05C 9/14 (2006.01), B05D 7/24 (2006.01), B41F 23/04 (2006.01), B41M 7/00 (2006.01), F26B 3/04 (2006.01), F26B 21/00 (2006.01)
Applicants: DAIDO SANGYO CO., LTD. [JP/JP]; 6-25, Bijogi 6-chome, Toda-shi, Saitama 3350031 (JP).
FUJISHOUKO CO.,LTD. [JP/JP]; 756-1, Iriyamase, Fuji-shi, Shizuoka 4190204 (JP).
NIHON DENNETSU CO.,LTD. [JP/JP]; 500, Toyoshina, Azumino-shi, Nagano 3998293 (JP).
ASAKURA Kentaro [JP/JP]; (JP)
Inventors: ASAKURA Kentaro; (JP).
HASEGAWA Shunsuke; (JP).
TAKAHASHI Shigeyuki; (JP).
DOBA Yoshihiro; (JP).
FUKUDOME Masao; (JP).
KOBAYASHI Sennin; (JP).
YAMAGUCHI Toshiaki; (JP).
YAMAGUCHI Yasuo; (JP)
Agent: TAKAHASHI Isamu; 7th Floor, Minaminihon Bldg., 10-7, Higashi Kanda 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1010031 (JP)
Priority Data:
2012-022537 03.02.2012 JP
2012-023417 06.02.2012 JP
Title (EN) INK DRYING METHOD AND INK DRYING DEVICE
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE SÉCHAGE D'ENCRE
(JA) インク乾燥方法及びインク乾燥装置
Abstract: front page image
(EN)An objective of the present invention is to significantly shorten drying time of ink which is applied to a substrate by modifying overheated dry vapor to have optimal characteristics in ink drying. By applying jet energy to overheated dry vapor in which saturated moisture vapor is heated and dried, particles of the overheated dry vapor are miniaturized and clustered, and by applying impact energy to the clustered overheated dry vapor, the clustered particles of the overheated dry vapor are further miniaturized, generating nano-size overheated dry vapor. By supplying the nano-size overheated dry vapor in a supersaturated state into a chamber in which a substrate is placed and forming an anoxic atmosphere within the chamber, and the nano-size overheated dry vapor in the anoxic atmosphere infused into ink molecules and molecular boundaries, the energy of the nano-sized overheated dry vapor is applied to the ink, and the moisture of the ink is evaporated and the organic solvent of the ink is either degraded or reduced.
(FR)L'objectif de cette invention est de réduire de manière significative le temps de séchage d'une encre ayant été appliquée sur un substrat, ceci par modification d'une vapeur sèche surchauffée en fonction de caractéristiques spécifiques au séchage de l'encre. Plus spécifiquement, de la vapeur saturée est chauffée et projetée dans de la vapeur sèche surchauffée ce qui provoque une réduction de la taille des particules de cette vapeur surchauffée, lesquelles s'agglomèrent. Par application d'une force d'impact à cette vapeur sèche surchauffée agglomérée, les particules de vapeur surchauffées sont davantage réduite en taille et une vapeur sèche surchauffée nanométrique est ainsi générée. La vapeur sèche surchauffée nanométrique est amenée, en état surstaturé, dans une chambre placée sur un substrat et un milieu exempt d'oxygène est formé. Dans ce milieu exempt d'oxygène, on fait pénétrer la vapeur sèche surchauffée nanométrique dans les molécules ou l'interface moléculaire d'une encre, cette encre est alors soumise à l'énergie de la vapeur susmentionnée et la vapeur d'eau et les solvants organiques de l'encre sont décomposés ou éliminés.
(JA)本発明は、過熱乾燥蒸気をインク乾燥に最適な特性に改質することにより、基材に塗布したインクの乾燥時間を大幅に短縮させることを目的とする。本発明は、飽和水蒸気を加熱して乾燥させた過熱乾燥蒸気に噴射エネルギーを付与することにより、その過熱乾燥蒸気の粒子を微細化してクラスター化し、前記クラスター化した過熱乾燥蒸気に衝突エネルギーを付与することにより、前記クラスター化した過熱乾燥蒸気の粒子をさらに微細化してナノ化過熱乾燥蒸気を生成し、基材を設置したチャンバー内に前記ナノ化過熱乾燥蒸気を超過飽和状態で供給して前記チャンバー内に無酸素雰囲気を形成し、その無酸素雰囲気中にて前記ナノ化過熱乾燥蒸気をインクの分子及び分子界面に浸透させることにより、前記インクに前記ナノ化過熱乾燥蒸気のエネルギーを付与して、前記インクの水分蒸発及び有機溶剤の分解ないしは低減をさせることを特徴とする。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)