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1. (WO2013114545) METHOD FOR ULTRASONIC FLAW DETECTION AND ULTRASONIC FLAW-DETECTION DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/114545    International Application No.:    PCT/JP2012/052037
Publication Date: 08.08.2013 International Filing Date: 30.01.2012
IPC:
G01N 29/48 (2006.01), G01N 29/07 (2006.01)
Applicants: HITACHI ENGINEERING & SERVICES CO., LTD. [JP/JP]; 3-2-2, Saiwai-cho, Hitachi-shi, Ibaraki 3170073 (JP) (For All Designated States Except US).
HANAWA Haruyuki [JP/JP]; (JP) (For US Only).
GO Toshimasa [JP/JP]; (JP) (For US Only).
MASUDA Hiroshi [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: HANAWA Haruyuki; (JP).
GO Toshimasa; (JP).
MASUDA Hiroshi; (JP)
Agent: ISONO Michizo; c/o Isono International Patent Office, Sabo Kaikan Annex, 7-4, Hirakawa-cho 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1020093 (JP)
Priority Data:
Title (EN) METHOD FOR ULTRASONIC FLAW DETECTION AND ULTRASONIC FLAW-DETECTION DEVICE
(FR) PROCÉDÉ POUR LA DÉTECTION DE DÉFAUT PAR ULTRASONS ET DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DÉFAUT PAR ULTRASONS
(JA) 超音波探傷方法および超音波探傷装置
Abstract: front page image
(EN)Provided are a method for ultrasonic flaw detection and an ultrasonic flaw-detection device capable of measuring easily and with good precision the height of a defect in a body being inspected. A method for ultrasonic flaw detection for changing the refraction angle (θ) of an ultrasonic wave (U) transmitted to the body (100) being inspected to cause the ultrasonic wave (U) to be incident, and for generating a first image showing, for each refraction angle (θ) and each period of time taken by the ultrasonic wave (U) to propagate to a defect (101) that reflects the ultrasonic wave (U), the strength (h) of the wave reflected from the defect (101). The method for ultrasonic flaw detection comprises: a frequency-calculation step for calculating the reflected-image frequency on the basis of the wave reflected from the defect (101) in the first image; and a defect-height estimation step for estimating the height (h) of the defect (101) on the basis of a calibration curve (552) showing the relationship between the height (h) of the defect (101) and the reflected-image frequency, and also on the basis of the reflected-image frequency calculated in the frequency-calculation step.
(FR)L'invention concerne un procédé pour la détection de défaut par ultrasons et un dispositif de détection de défaut par ultrasons aptes à mesurer facilement et avec une bonne précision la hauteur d'un défaut dans un corps qui est inspecté. L'invention concerne un procédé pour la détection de défaut par ultrasons en changeant l'angle de réfraction (θ) d'une onde ultrasonore (U) transmise au corps (100) qui est inspecté pour provoquer l'incidence de l'onde ultrasonore (U) et en générant une première image montrant, pour chaque angle de réfraction (θ) et pour chaque période de temps prise par l'onde ultrasonore (U) pour se propager jusqu'à un défaut (101) qui réfléchit l'onde ultrasonore (U), la hauteur (h) de l'onde réfléchie par le défaut (101). Le procédé de détection de défaut par ultrasons comprend : une étape de calcul de fréquence pour calculer la fréquence de l'image réfléchie sur la base de l'onde réfléchie par le défaut (101) sur la première image ; et une étape d'estimation de hauteur de défaut, pour estimer la hauteur (h) du défaut (101) sur la base d'une courbe d'étalonnage (552) montrant la relation entre la hauteur (h) du défaut (101) et la fréquence de l'image réfléchie, et ainsi sur la base de la fréquence de l'image réfléchie calculée dans l'étape de calcul de fréquence.
(JA) 被検査体中の欠陥の高さを簡便に精度よく測定可能な超音波探傷方法および超音波探傷装置を提供する。 被検査体(100)へ伝播させる超音波(U)の屈折角(θ)を変えて超音波(U)を入射し、屈折角(θ)および超音波(U)を反射する欠陥(101)までの伝播時間毎に、欠陥(101)からの反射波の強度(h)を表示する第1の画像を生成する超音波探傷方法であって、第1の画像における欠陥(101)からの反射波に基づく反射画像度数を演算する度数演算ステップと、欠陥(101)の高さ(h)と反射画像度数との関係を示す校正曲線(552)に基づくとともに、度数演算ステップにより演算された反射画像度数に基づいて、欠陥(101)の高さ(h)を推定する欠陥高さ推定ステップと、を有する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)