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1. (WO2013113481) MULTISCALE DISTANCE MEASUREMENT WITH FREQUENCY COMBS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/113481    International Application No.:    PCT/EP2013/000204
Publication Date: 08.08.2013 International Filing Date: 23.01.2013
IPC:
G01B 9/02 (2006.01), G01B 11/02 (2006.01)
Applicants: KARLSRUHER INSTITUT FÜR TECHNOLOGIE (KIT) [DE/DE]; Kaiserstraße 12 76131 Karlsruhe (DE)
Inventors: KOOS, Christian; (DE).
WEIMANN, Claudius; (DE).
LEUTHOLD, Juerg; (DE)
Agent: SCHIUMA, Daniele; Müller-Boré & Partner Patentanwälte PartG mbB Friedenheimer Brücke 21 80639 München (DE)
Priority Data:
10 2012 001 754.5 30.01.2012 DE
Title (DE) MEHRSKALIGE DISTANZMESSUNG MIT FREQUENZKÄMMEN
(EN) MULTISCALE DISTANCE MEASUREMENT WITH FREQUENCY COMBS
(FR) MESURE DE DISTANCE MULTI-ÉCHELLE AVEC PEIGNES DE FRÉQUENCE
Abstract: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine entsprechende Vorrichtung zur Distanz- und optional Geschwindigkeitsmessung, insbesondere zur multiskaligen Distanzmessung. Das Verfahren umfasst ein Erzeugen eines ersten und eines zweiten Frequenzkammsignals (201, 202), wobei das erste und das zweite Frequenzkammsignal (201, 202) unterschiedliche Linienabstände aufweisen; eine Referenzmessung umfassend ein Überlagern des zumindest einen Teils des ersten Frequenzkammsignals (201) und zumindest ein Teil des zweiten Frequenzkammsignals (202) in einem Referenzstrahlengang (103) und ein Erfassen des durch den Referenzstrahlengang propagierten Überlagerungssignals; eine erste Messung umfassend ein Überlagern des zumindest eines Teils des ersten Frequenzkammsignals (201) mit zumindest einem Teil des zweiten Frequenzkammsignals (202), ein Einkoppeln des Überlagerungssignals in einen Messstrahlengang (104) und ein Erfassen des durch den Messtrahlengang propagierten Überlagerungssignals; und ein Ermitteln des Wegunterschiedes zwischen dem Referenzstrahlengang (103) und dem Messstrahlengang (104) aus den erfassten Überlagerungssignalen.
(EN)The invention relates to a method and a corresponding apparatus for measuring distance and optionally speed, in particular for multiscale distance measurement. The method comprises generating a first and a second frequency comb signal (201, 202), wherein the first and second frequency comb signals (201, 202) have different line spacings; a reference measurement comprising superimposing the at least one part of the first frequency comb signal (201) and at least one part of the second frequency comb signal (202) in a reference beam path (103) and detecting the superimposition signal propagated by the reference beam path; a first measurement comprising superimposing at least one part of the second frequency comb signal (202) on the at least one part of the first frequency comb signal (201), injecting the superimposition signal into a measurement beam path (104) and detecting the superimposition signal propagated by the measurement beam path; and determining the path difference between the reference beam path (103) and the measurement beam path (104) from the detected superimposition signals.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif correspondant pour la mesure de distance et, en option, de vitesse, en particulier pour une mesure de distance multi-échelle. Le procédé comprend : la production d'un premier et d'un deuxième signal en peigne de fréquence (201, 202), le premier et le deuxième signal en peigne de fréquence (201, 202) présentant différents espacements entre les lignes; une mesure de référence, comprenant une superposition d'une ou de plusieurs parties du premier signal en peigne de fréquence (201) et d'au moins une partie du deuxième signal en peigne de fréquence (202) dans une marche des rayons de référence (103) et une saisie du signal de superposition propagé à travers la marche des rayons de référence; une première mesure comprenant une superposition de la ou des parties du premier signal en peigne de fréquence (201) avec au moins une partie du deuxième signal en peigne de fréquence (202), une injection du signal de superposition dans une marche des rayons de mesure (104) et une saisie du signal de superposition propagé à travers la marche des rayons de mesure; et une détermination de la différence de trajet entre la marche des rayons de référence (103) et la marche des rayons de mesure (104) à partir des signaux de superposition saisis.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)