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1. (WO2013112766) METHOD AND DEVICE FOR ESTIMATING DAMAGE TO A MAGNETIC TUNNEL JUNCTION (MTJ) ELEMENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2013/112766 International Application No.: PCT/US2013/023028
Publication Date: 01.08.2013 International Filing Date: 24.01.2013
IPC:
G01R 31/26 (2006.01) ,G11C 29/50 (2006.01) ,H01L 21/66 (2006.01) ,H01L 43/12 (2006.01)
Applicants: QUALCOMM INCORPORATED[US/US]; Attn: International Ip Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, California 92121, US
Inventors: LI, Xia; US
CHEN, Wei-Chuan; US
KANG, Seung H.; US
Agent: TALPALATSKY, Sam; 5775 Morehouse Drive San Diego, California 92121, US
Priority Data:
13/357,41724.01.2012US
Title (EN) METHOD AND DEVICE FOR ESTIMATING DAMAGE TO A MAGNETIC TUNNEL JUNCTION (MTJ) ELEMENT
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'ESTIMATION D'UNE DÉTÉRIORATION D'UN ÉLÉMENT DE JONCTION DE TUNNEL MAGNÉTIQUE (MTJ)
Abstract: front page image
(EN) A method of estimating damage to a magnetic tunnel junction (MTJ) element that includes providing an MTJ element having a magnetic barrier layer, the magnetic barrier layer having a periphery, a cross-sectional area and a thickness and comprising an inner region of undamaged magnetic barrier material and an outer region of damaged magnetic barrier material between the inner region and the periphery, determining a first value indicative of an electrical characteristic of the MTJ element, determining a second value indicative of the electrical characteristic that the MTJ element would have had if the outer region of damaged magnetic barrier material were not present and if the inner region of undamaged magnetic barrier material extended to the periphery, and calculating a value indicative of the size of the outer region of damaged magnetic barrier material from the first value and the second value. Also a computer configured to perform the method.
(FR) La présente invention concerne un procédé d'estimation d'une détérioration d'un élément de jonction de tunnel magnétique (MTJ) qui comprend une étape consistant à préparer un élément de MTJ comportant une couche barrière magnétique. La couche barrière magnétique a une périphérie, une zone de section transversale et une épaisseur et elle comporte une région intérieure en un matériau de barrière magnétique non détérioré et une région extérieure en un matériau de barrière magnétique détérioré. La région extérieure est située entre la région intérieure et la périphérie. Le procédé comprend en outre les étapes consistant à déterminer une première valeur indiquant une caractéristique électrique de l'élément de MTJ, déterminer une seconde valeur indiquant la caractéristique électrique que l'élément de MTJ aurait eue si la région extérieure en un matériau de barrière magnétique détérioré n'existait pas et si la région intérieure en un matériau de barrière magnétique non détérioré s'étendait jusqu'à la périphérie et calculer une valeur indiquant la taille de la région extérieure en un matériau de barrière magnétique détérioré entre les première et seconde valeurs. La présente invention concerne également un ordinateur conçu pour mettre en œuvre le procédé.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)