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1. (WO2013112309) INTEGRATED, PORTABLE SAMPLE ANALYSIS SYSTEM AND METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/112309    International Application No.:    PCT/US2013/021407
Publication Date: 01.08.2013 International Filing Date: 14.01.2013
IPC:
G01N 11/00 (2006.01)
Applicants: SPECTRO SCIENTIFIC, INC. [US/US]; One Executive Drive, Suite 101 Chelmsford, MA 01824 (US)
Inventors: HENNING, Patrick F.; (US).
BARRACLOUGH, Thomas G.; (US).
OLSON, Eric J.; (US).
LAWRENCE, Stephen D.; (US).
YURKO, Robert, J.; (US)
Agent: THOMPKINS, Thomas E., Jr.; Iandiorio Teska & Coleman, LLP 255 Bear Hill Road Waltham, MA 02451 (US)
Priority Data:
13/374,934 24.01.2012 US
Title (EN) INTEGRATED, PORTABLE SAMPLE ANALYSIS SYSTEM AND METHOD
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME D'ANALYSE D'ÉCHANTILLON PORTABLE INTÉGRÉ
Abstract: front page image
(EN)An integrated, portable sample analysis system and method. A viscometer subsystem receives a first portion of a sample. A spectrometer subsystem receives a second portion of the sample. A syringe pump subsystem receives a third portion of the sample and is configured to urge the third portion of the sample through a filter which collects particles in the sample thereon. An x-ray analysis subsystem is configured to x- ray the particles. The x-ray analysis subsystem also receives a fourth portion of the sample in order to determine the composition of any dissolved material in the sample. A processing subsystem provides a report concerning the sample and its viscosity, physical properties, particulate count and size distribution, and the composition of particulate and dissolved elements in the sample.
(FR)L'invention concerne un procédé et un système d'analyse d'échantillon portable intégré. Un système secondaire de viscosimètre reçoit une première partie d'un échantillon. Un système secondaire de spectromètre reçoit une deuxième partie de l'échantillon. Un système secondaire de pompe de seringue reçoit une troisième partie de l'échantillon et il est configuré pour amener la troisième partie de l'échantillon à travers un filtre qui collecte les particules de l'échantillon sur lui. Un système secondaire d'analyse par rayons X est configuré pour radiographier les particules. Le système d'analyse par rayons X reçoit également une quatrième partie de l'échantillon, afin de déterminer la composition de tout matériau dissous dans l'échantillon. Un système secondaire de traitement fournit un rapport concernant l'échantillon et sa viscosité, ses propriétés physiques, sa répartition par taille et son nombre particulaire, ainsi que la composition des éléments particulaires et des éléments dissous dans l'échantillon.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)