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1. (WO2013112220) SYSTEM AND METHOD OF MAINTAINING CORRECTION OF DC OFFSETS IN FREQUENCY DOWN-CONVERTED DATA SIGNALS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/112220    International Application No.:    PCT/US2012/063491
Publication Date: 01.08.2013 International Filing Date: 05.11.2012
IPC:
H04L 25/17 (2006.01)
Applicants: LITEPOINT CORPORATION [US/US]; 575 Maude Court Sunnyvale, CA 94085 (US)
Inventors: OLGAARD, Christian Volf; (US).
WANG, Ruizu; (US).
ERDOGAN, Erdem Serkan; (US)
Agent: DALLA VALLE, Mark A.; Vedder Price PC 222 N. La Salle St., Suite 2400 Chicago, Illinois 60601 (US)
Priority Data:
13/357,370 24.01.2012 US
Title (EN) SYSTEM AND METHOD OF MAINTAINING CORRECTION OF DC OFFSETS IN FREQUENCY DOWN-CONVERTED DATA SIGNALS
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MAINTIEN DE CORRECTION DE DÉCALAGES EN COURANT CONTINU DANS DES SIGNAUX DE DONNÉES CONVERTIS PAR ABAISSEMENT DE FRÉQUENCE
Abstract: front page image
(EN)Circuitry and method for reduce test time for wireless signal systems by using dynamic adaptive correction of DC offsets generated by the test instrument. The data signal is sampled for downstream processing including during pre-, inter-, or post-packet time intervals where no packet-data signal is occurring and where the device's power amplifier is turned off. The sampled data signal is measured for a DC offset occurring during these inter-packet time gaps. Compensating DC offset values are stored in a table indexed by frequency, gain and temperature range. When a subsequent test is carried out at that frequency, gain, and temperature range, the stored compensation value is used to correct the signal. DC offsets continue to be measured, stored and applied to captured signals, continuously refining the compensation values and decreasing the need for time-intensive calibrations. When a measured DC offset exceeds pre-determined limits, the instrument undergo a calibration step.
(FR)La présente invention concerne un circuit et un procédé permettant de réduire le temps de test de systèmes de signaux sans fil à l'aide d'une correction adaptative dynamique des décalages en courant continu générés par l'appareil de test. Le signal de données est échantillonné aux fins d'un traitement en aval, y compris pendant des intervalles de temps avant paquets, entre paquets et après paquets, où aucun signal de données de paquet n'est en train de se produire et où l'amplificateur de puissance du dispositif est mis hors tension. Le signal de données échantillonné est mesuré pour un décalage en courant continu survenant pendant ces intervalles de temps entre paquets. Des valeurs de décalage en courant continu de compensation sont stockées dans une table indexée par fréquence, gain et plage de température. Lorsqu'un test subséquent est réalisé à cette fréquence, à ce gain, et à cette plage de température, la valeur de compensation stockée est utilisée pour corriger le signal. Des décalages en courant continu continuent d'être mesurés, stockés et appliqués aux signaux capturés améliorant de façon continue les valeurs de compensation et diminuant la nécessité d'un long étalonnage. Lorsqu'un décalage en courant continu dépasse des limites prédéterminées, l'appareil passe par une étape d'étalonnage.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)