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1. (WO2013111746) COGNITIVE FUNCTION TESTING SYSTEM, COGNITIVE FUNCTION ESTIMATION SYSTEM, COGNITIVE FUNCTION TESTING METHOD, AND COGNITIVE FUNCTION ESTIMATION METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/111746    International Application No.:    PCT/JP2013/051187
Publication Date: 01.08.2013 International Filing Date: 22.01.2013
IPC:
A61B 10/00 (2006.01), A61B 5/16 (2006.01)
Applicants: NATIONAL CENTER OF NEUROLOGY AND PSYCHIATRY [JP/JP]; 4-1-1, Ogawa-Higashi-cho, Kodaira-shi, Tokyo 1878551 (JP)
Inventors: YASUMURA Akira; (JP).
INAGAKI Masumi; (JP)
Agent: SHIN-YU INTERNATIONAL PATENT FIRM; Sasazuka Center Bldg., 2-1-6, Sasazuka, Shibuya-ku, Tokyo 1510073 (JP)
Priority Data:
2012-014531 26.01.2012 JP
Title (EN) COGNITIVE FUNCTION TESTING SYSTEM, COGNITIVE FUNCTION ESTIMATION SYSTEM, COGNITIVE FUNCTION TESTING METHOD, AND COGNITIVE FUNCTION ESTIMATION METHOD
(FR) SYSTÈME DE TEST DE LA FONCTION COGNITIVE, SYSTÈME D'ESTIMATION DE LA FONCTION COGNITIVE, PROCÉDÉ DE TEST DE LA FONCTION COGNITIVE, ET PROCÉDÉ D'ESTIMATION DE LA FONCTION COGNITIVE
(JA) 認知機能検査システム、認知機能推定システム、認知機能検査方法及び認知機能推定方法
Abstract: front page image
(EN)Provided is a cognitive function testing system capable of efficiently and objectively measuring cognitive functions related to, for example, ADHD and easily collecting detailed data. In addition, a cognitive function estimation system is provided to enable estimating and determining the probability of an individual having a disorder such as ADHD after the cognitive functions related to, for example, ADHD have been efficiently and objectively measured. In contrast to the conventional Stroop interference test that uses paper, one problem is displayed on one screen, and not only the correctness result of the problem for the test subject, but also coordinate information for when the test subject responds by manipulating a touch panel display, are recorded in a problem answer table. Furthermore, an estimation calculation based on a learning algorithm can be used to estimate the degree of cognitive function of the test subject.
(FR)La présente invention concerne un système de test de la fonction cognitive capable d'efficacement et d'objectivement mesurer les fonctions cognitives liées, par exemple, à un TDAH et collecter facilement des données détaillées. En outre, un système d'estimation de la fonction cognitive est fourni pour permettre l'estimation et la détermination de la probabilité du fait qu'un individu souffre d'un trouble tel que le TDAH après la mesure efficace et objective des fonctions cognitive liées, par exemple, au TDAH. Contrairement au test d'interférence de Stroop classique qui utilise du papier, un problème est affiché sur un écran, et non seulement l'exactitude du résultat du problème pour le sujet du test, mais aussi les informations relatives aux coordonnées portant sur le moment où le sujet répond par manipulation d'un dispositif d'affichage à panneau tactile, sont enregistrées dans un tableau de réponse au problème. En outre, un calcul d'estimation basé sur l'algorithme d'apprentissage peut être utilisé pour estimer le degré de fonction cognitive du sujet du test.
(JA)ADHD等に関連する認知機能を、効率的且つ客観的に測定し、容易に詳細なデータを収集できる、認知機能検査システムを提供する。また、ADHD等に関連する認知機能を効率的且つ客観的に測定した後、個人がADHD等の障害を持つ可能性を推定し、判別することができる、認知機能推定システムを提供する。 従来の紙を用いたストループ干渉テストとは異なり、一つの課題を一画面で表示させ、課題に対する被験者の正誤結果のみならず、被験者がタッチパネルディスプレイに回答の操作をした際の座標情報も課題回答テーブルに記録する。更に、学習アルゴリズムに基づく推定演算を用いて、被験者の認知機能の度合いを推定できる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)