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Pub. No.:    WO/2013/111354    International Application No.:    PCT/JP2012/061063
Publication Date: 01.08.2013 International Filing Date: 25.04.2012
G01B 11/24 (2006.01)
Applicants: CKD CORPORATION [JP/JP]; 250, Ouji 2-chome, Komaki-shi, Aichi 4858551 (JP) (For All Designated States Except US).
MAMIYA Takahiro [JP/JP]; (JP) (For US Only).
ISHIGAKI Hiroyuki [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: MAMIYA Takahiro; (JP).
ISHIGAKI Hiroyuki; (JP)
Agent: KAWAGUCHI Mitsuo; 48KT Bldg. 302, 9-37, Meieki 3-chome, Nishi-ku, Nagoya-shi, Aichi 4510045 (JP)
Priority Data:
2012-014793 27.01.2012 JP
(JA) 三次元計測装置
Abstract: front page image
(EN)Provided is a three-dimensional measurement device that can improve measurement precision when performing three-dimensional measurements. A substrate inspection device (10) is provided with: a conveyor (13) that transports a printed circuit board (1); an illuminating device (14) that shines any of four light patterns with different brightnesses on the printed circuit board (1); and a camera (15) that images the printed circuit board (1) on which the light pattern is being shined. Furthermore, when four pieces of image data, which have been imaged under a light pattern with the same brightness and the phase of which has been changed by a prescribed amount, are treated as one group, four groups of data imaged under the four light patterns are acquired for each prescribed transport amount of the printed circuit board (1). Next, whether or not the brightness value for each pixel of the image data is included in a preset effective range (H) is determined, a group of data that has a brightness value for each pixel of the image data within the effective range (H) is extracted from the four groups of data, and three-dimensional measurements are carried out on the basis of the extracted group of data.
(FR)La présente invention a trait à un dispositif de mesure tridimensionnelle qui permet d'améliorer la précision de mesure lorsque des mesures tridimensionnelles sont effectuées. L'invention comprend un dispositif d'inspection de substrat (10) comportant : un convoyeur (13) qui transporte une carte de circuit imprimé (1) ; un dispositif d'éclairage (14) appliquant l'un quelconque des quatre modèles lumineux dotés de différentes luminances sur la carte de circuit imprimé (1) ; et un appareil photo (15) qui prend des images de la carte de circuit imprimé (1) sur laquelle le modèle lumineux est appliqué. En outre, lorsque quatre parties de données image, qui ont été imagées sous un modèle lumineux doté de la même luminance et dont la phase a été modifiée dans une proportion prescrite, sont traitées en tant qu'un groupe, quatre groupes de données imagées sous les quatre modèles lumineux sont acquis pour chaque proportion de transport prescrite de la carte de circuit imprimé (1). Ensuite, il est déterminé si la luminance pour chaque pixel des données image s'inscrit ou non dans une plage effective prédéfinie (H) ; un groupe de données ayant une luminance pour chaque pixel des données image à l'intérieur de la plage effective (H) est extrait à partir des quatre groupes de données ; et des mesures tridimensionnelles sont effectuées sur la base du groupe de données extrait.
(JA) 三次元計測を行うにあたり、計測精度の向上等を図ることのできる三次元計測装置を提供する。基板検査装置10は、プリント基板1を搬送するコンベア13と、プリント基板1に対し輝度の異なる4種類のパターン光のうちのいずれかを照射する照明装置14と、当該パターン光の照射されたプリント基板1を撮像するカメラ15とを備えている。そして、プリント基板1が所定量搬送される毎に、所定量ずつ位相の変化した同一輝度のパターン光の下で撮像される4通りの画像データを1組として、前記4種類のパターン光の下で撮像された4組のグループデータを取得する。次に画像データの各画素の輝度値が予め設定した有効範囲H内に含まれているか否かを判定すると共に、4つのグループデータの中から、画像データの各画素の輝度値が有効範囲H内にあるグループデータを抽出し、当該抽出されたグループデータを基に三次元計測を行う。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)