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1. (WO2013111229) CAMERA CALIBRATION DEVICE, CAMERA CALIBRATION METHOD, AND CAMERA CALIBRATION PROGRAM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/111229    International Application No.:    PCT/JP2012/007655
Publication Date: 01.08.2013 International Filing Date: 29.11.2012
IPC:
G01B 11/00 (2006.01)
Applicants: NEC CORPORATION [JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP) (For All Designated States Except US).
IKEDA, Hiroo [JP/JP]; (JP) (US only)
Inventors: IKEDA, Hiroo; (JP)
Agent: IWAKABE, Fuyuki; SUNRISE PATENT OFFICE, Yomiurichuko Bldg.6F, 8-7, Kyobashi 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040031 (JP)
Priority Data:
2012-010640 23.01.2012 JP
Title (EN) CAMERA CALIBRATION DEVICE, CAMERA CALIBRATION METHOD, AND CAMERA CALIBRATION PROGRAM
(FR) DISPOSITIF, PROCÉDÉ ET PROGRAMME D'ÉTALONNAGE D'UN APPAREIL DE PRISE DE VUES
(JA) カメラ校正装置、カメラ校正方法およびカメラ校正用プログラム
Abstract: front page image
(EN)Provided is a camera calibration device with which it is possible to easily and highly precisely estimate camera parameters without installing special calibration equipment or carrying out a measurement of three-dimensional coordinates of a reference point which is employed in the calibration. A normal vector acquisition means (81) acquires, from an image of a camera to be calibrated, a normal vector which is perpendicular to a reference horizontal plane. A rotational matrix estimation means (82) projects the obtained normal vector in a virtual plane for projection which is perpendicular to the horizontal plane which is the reference of the normal vector, evaluates that the projected normal vector is perpendicular to the reference horizontal plane, and estimates a rotational matrix which is to be employed in the camera calibration.
(FR)La présente invention concerne un dispositif d'étalonnage d'un appareil de prise de vues avec lequel il est possible d'estimer de façon simple et extrêmement précise des paramètres d'appareil de prise de vues, sans installer un équipement d'étalonnage particulier ni réaliser une mesure de coordonnées tridimensionnelles d'un point de référence utilisé dans l'étalonnage. Un moyen d'acquisition de vecteurs normaux (81) acquiert, à partir d'une image d'un appareil de prise de vues devant être étalonné, un vecteur normal qui est perpendiculaire à un plan horizontal de référence. Un moyen d'estimation de matrice rotationnelle (82) projette le vecteur normal obtenu dans un plan virtuel pour projection qui est perpendiculaire au plan horizontal constituant la référence du vecteur normal, évalue que le vecteur normal projeté est perpendiculaire au plan horizontal de référence et estime une matrice rotationnelle qui doit être utilisée dans l'étalonnage de l'appareil de prise de vues.
(JA) 特別な校正用機材の設置や、校正に用いる参照点の3次元座標の計測を行わずに、高精度且つ容易にカメラパラメータを推定できるカメラ校正装置を提供する。法線ベクトル取得手段81は、校正対象のカメラの画像から、基準となる水平面に対して垂直な法線ベクトルを取得する。回転行列推定手段82は、得られた法線ベクトルを基準となる水平面に対して垂直な投影用仮想平面に投影し、投影された法線ベクトルが基準となる水平面に対して垂直になることを評価して、カメラの校正に用いられる回転行列を推定する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)