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1. (WO2013110806) METHOD AND REFERENCE MODEL FOR CHECKING A MEASURING SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/110806    International Application No.:    PCT/EP2013/051547
Publication Date: 01.08.2013 International Filing Date: 28.01.2013
IPC:
G01B 11/24 (2006.01), G06T 7/00 (2006.01), A61B 5/107 (2006.01), A61C 9/00 (2006.01), A61C 13/00 (2006.01), G09B 23/28 (2006.01)
Applicants: SIRONA DENTAL SYSTEMS GMBH [DE/DE]; Fabrikstr. 31 64625 Bensheim (DE)
Inventors: POPILKA, Björn; (DE).
WEDLER, Volker; (DE).
ADAMSON, Anders; (DE).
THIEL, Frank; (DE)
Agent: SOMMER, Peter; Sommer Patentanwalt Augustaanlage 22 68165 Mannheim (DE)
Priority Data:
10 2012 201 193.5 27.01.2012 DE
Title (DE) VERFAHREN UND REFERENZMODELL ZUR ÜBERPRÜFUNG EINES VERMESSUNGSSYSTEMS
(EN) METHOD AND REFERENCE MODEL FOR CHECKING A MEASURING SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ ET MODÈLE DE RÉFÉRENCE PERMETTANT DE VÉRIFIER UN SYSTÈME DE MESURE
Abstract: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Referenzobjekt (3) und ein Verfahren zur Überprüfung eines Vermessungssystems (1), wobei mehrere dreidimensionale Aufnahmen (4, 8) mittels des Vermessungssystems (1) von einem Referenzobjekt aus unterschiedlichen Aufnahmerichtungen (5) aufgenommen werden. Das Referenzobjekt (3) weist eine geschlossene Form auf, wobei jede der dreidimensionalen Aufnahmen (4) mindestens mit der vorangehenden Aufnahme (4) registriert wird. Bei einer fehlerhaften Kalibrierung und/oder bei einer fehlerhaften Registrierung sind die einzelnen Aufnahmen (4, 8) im Vergleich zur tatsächlichen Form des Referenzobjekts (3) verformt, sodass sich beim Zusammensetzen der einzelnen dreidimensionalen Aufnahmen (4) zu einer Gesamtaufnahme (54) die Verformung fortsetzt und dadurch die erzeugte Gesamtaufnahme (54) in ihren Abmessungen von den Abmessungen des Referenzobjekts (3) abweicht. Mindestens ein Objektbereich (10) des Referenzobjekts (3) wird am Anfang eines Umlaufs und am Ende des Umlaufs doppelt vermessen, wobei ein Abstand (55) zwischen einer ersten Position des Objektbereichs (10) in einer ersten Aufnahme am Anfang des Umlaufs und einer zweiten Position des Objektbereichs (10) in einer zweiten Aufnahme am Ende des Umlaufs in der Gesamtaufnahme (54) bestimmt wird.
(EN)The invention relates to a reference object (3) and a method for checking a measuring system (1), wherein a plurality of three-dimensional recordings (4, 8) of a reference object are recorded from different recording directions (5) by means of the measuring system (1). The reference object (3) has a closed shape, wherein each of the three-dimensional recordings (4) is registered with at least the preceding recording (4). In the case of a faulty calibration and/or in the case of a faulty registration, the individual recordings (4, 8) are deformed compared to the actual shape of the reference object (3), so that the deformation continues when assembling the individual three-dimensional recordings (4) to form an overall recording (54) and the generated overall recording (54) deviates in its dimensions from the dimensions of the reference object (3) as a result thereof. At least one object region (10) of the reference object (3) is measured twice, at the beginning of a circuit and at the end of the circuit, wherein a distance (55) is determined in the overall recording (54) between a first position of the object region (10) in a first recording at the beginning of the circuit and a second position of the object region (10) in a second recording at the end of the circuit.
(FR)L'invention concerne un objet de référence (3) et un procédé permettant de vérifier un système de mesure (1), le procédé consistant à prendre au moyen du système de mesure (1) plusieurs vues en trois dimensions (4, 5) d'un objet de référence à partir de différentes orientations (5) d'un objet de référence. L'objet de référence (3) présente une forme fermée, chacune des vues en trois dimensions (4) étant enregistrée avec la vue précédente (4). En cas d'erreur d'étalonnage et/ou en cas d'erreur d'enregistrement, les différentes vues (4, 8) sont déformées par rapport à la forme réelle de l'objet de référence (3), de sorte que lorsque les différentes vues en trois dimensions (4) sont assemblées en une vue d'ensemble (54), la déformation se poursuit et les dimensions de la vue d'ensemble (54) obtenue divergent de ce fait des dimensions de l'objet de référence. Au moins une partie (10) de l'objet de référence (3) est mesurée doublement au début d'un tour et à la fin du tour, un écartement (55) entre une première position de la partie (10) de l'objet dans une première vue au début du tour et une deuxième position de la partie (10) de l'objet dans une seconde vue à la fin du tour étant déterminé dans la vue d'ensemble (54).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)