WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2013058028) FT DIAGRAM CREATION ASSISTANCE DEVICE AND FT DIAGRAM CREATION ASSISTANCE METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/058028    International Application No.:    PCT/JP2012/072917
Publication Date: 25.04.2013 International Filing Date: 07.09.2012
IPC:
G05B 23/02 (2006.01), G06Q 50/10 (2012.01)
Applicants: JATCO Ltd [JP/JP]; 700-1, Imaizumi, Fuji-shi, Shizuoka 4178585 (JP) (For All Designated States Except US).
The University of Tokyo [JP/JP]; 3-1, Hongo 7-chome, Bunkyo-ku, Tokyo 1138654 (JP) (For All Designated States Except US).
HIRAOKA, Youji [JP/JP]; (JP) (For US Only).
MURAKAMI, Tamotsu [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: HIRAOKA, Youji; (JP).
MURAKAMI, Tamotsu; (JP)
Agent: GOTO, Masaki; GOTOH & PARTNERS, Shoyu-Kaikan, 3-1, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000013 (JP)
Priority Data:
2011-229597 19.10.2011 JP
Title (EN) FT DIAGRAM CREATION ASSISTANCE DEVICE AND FT DIAGRAM CREATION ASSISTANCE METHOD
(FR) DISPOSITIF D'AIDE À LA CRÉATION DE DIAGRAMME DE TRANSFORMÉE DE FOURIER (FT) ET PROCÉDÉ D'AIDE À LA CRÉATION DE DIAGRAMME FT
(JA) FT図作成支援装置及びFT図作成支援方法
Abstract: front page image
(EN)In the present invention, an event is classified into either of a failure of hardware or a failure of a system or a control system. If the event is classified into a failure of hardware, the event is deployed to a low-level event, physical quantities of the event and the low-level event are acquired, and on the basis of the relationship between the physical quantity of the event and the physical quantity of the low-level event, a verification is made regarding whether the deployment of the event has been correctly performed. If the event is classified into a failure of a system or a control system, a block diagram for the system or the control system is created, and on the basis of input/output relationships in the block diagram for the system or the control system, the event is deployed to a low-level event.
(FR)Selon la présente invention, un événement est classifié en soit une défaillance de matériel, soit une défaillance d'un système ou d'un système de commande. Si l'événement est classifié en une défaillance de matériel, l'événement est déployé à un événement de niveau faible, des quantités physiques de l'événement et de l'événement de niveau faible sont acquises, et sur la base de la relation entre la quantité physique de l'événement et la quantité physique de l'événement de niveau faible, une vérification est réalisée quant au point de savoir si le déploiement de l'événement a été correctement réalisé. Si l'événement est classifié en une défaillance d'un système ou d'un système de commande, un schéma fonctionnel pour le système ou le système de commande est créé, et sur la base des relations d'entrée/sortie dans le schéma fonctionnel pour le système ou le système de commande, l'événement est déployé à un événement de niveau faible.
(JA) 事象をハードの故障とシステム又は制御系の故障とのいずれかに分類し、前記事象がハードの故障に分類された場合には、前記事象を下位事象に展開し、前記事象及び前記下位事象の物理量を取得し、前記事象の物理量と前記下位事象の物理量との関係に基づき前記事象の展開が正しく行われたか検証し、前記事象がシステム又は制御系の故障に分類された場合には、前記システム又は制御系のブロック図を作成し、前記システム又は制御系のブロック図の入出力関係に基づき前記事象を下位事象に展開する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)