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1. (WO2013057645) PHOTON COUNTING DETECTOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/057645    International Application No.:    PCT/IB2012/055554
Publication Date: 25.04.2013 International Filing Date: 12.10.2012
IPC:
G01T 1/24 (2006.01), G01T 7/00 (2006.01)
Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS N.V. [NL/NL]; High Tech Campus 5 NL-5656 AE Eindhoven (NL) (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
PHILIPS DEUTSCHLAND GMBH [DE/DE]; Lübeckertordamm 5 20099 Hamburg (DE) (DE only)
Inventors: STEADMAN BOOKER, Roger; (NL).
LUHTA, Randall, Peter; (NL).
HERRMANN, Christoph; (NL)
Agent: VAN VELZEN, Maaike, M.; High Tech Campus 44 NL-5600 AE Eindhoven (NL)
Priority Data:
61/548,749 19.10.2011 US
Title (EN) PHOTON COUNTING DETECTOR
(FR) DÉTECTEUR DE COMPTAGE DE PHOTONS
Abstract: front page image
(EN)An imaging system (300) includes a detector array (314)with direct conversion detector pixels that detect radiation traversing an examination region of the imaging system and generate a signal indicative of the detected radiation, a pulse shaper (316) configured to alternatively process the signal indicative of detected radiation generated by the detector array or a set of test pulses having different and known heights that correspond to different and known energy levels and to generate output pulses having heights indicative of the energy of the processed detected radiation or set of test pulses, and a thresholds adjuster (330) configured to analyze the heights of the output pulses corresponding to the set of test pulses in connection with the heights of set of test pulses and a set of predetermined fixed energy thresholds and generate a threshold adjustment signal indicative of a baseline based on a result of the analysis.
(FR)Dans la présente invention, un système imageur (300) comprend : un réseau de détecteurs (314) comportant des pixels de détecteurs de conversion directe qui détectent le rayonnement traversant une région d'examen du système imageur et qui génèrent un signal indiquant le rayonnement détecté; un formeur d'impulsions (316) conçu pour traiter tour à tour le signal indiquant le rayonnement détecté généré par le réseau de détecteurs ou un ensemble d'impulsions d'essai ayant des amplitudes différentes et connues qui correspondent à des niveaux énergétiques différents et connus, et pour générer des impulsions de sortie ayant des amplitudes qui reflètent l'énergie du rayonnement détecté ou de l'ensemble d'impulsions d'essai traités; ainsi qu'un dispositif d'ajustement de seuils (330) prévu pour analyser les amplitudes des impulsions de sortie correspondant à l'ensemble d'impulsions d'essai par rapport aux amplitudes de l'ensemble d'impulsions d'essai et d'un ensemble de seuils d'énergie fixes prédéfinis, et pour générer un signal d'ajustement de seuils qui reflète une base reposant sur un résultat de l'analyse.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)