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1. (WO2013057157) METHOD FOR MEASURING THE THICKNESS OF A COATING LAYER BY INDUCING MAGNETIC FIELDS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/057157    International Application No.:    PCT/EP2012/070599
Publication Date: 25.04.2013 International Filing Date: 17.10.2012
IPC:
G01B 7/06 (2006.01)
Applicants: MESSIER-BUGATTI-DOWTY [FR/FR]; Inovel Parc Sud F-78140 Velizy Villacoublay (FR).
AIRCELLE [FR/FR]; (FR)
Inventors: GAY, Lionel; (FR).
GARRIGOU, Nicolas; (FR).
MONERIE-MOULIN, Francis; (FR)
Agent: PARZY, Benjamin; 16 rue Médéric F-75017 Paris (FR)
Priority Data:
11 59513 20.10.2011 FR
Title (EN) METHOD FOR MEASURING THE THICKNESS OF A COATING LAYER BY INDUCING MAGNETIC FIELDS
(FR) PROCEDE DE MESURE D'EPAISSEUR D'UNE COUCHE DE REVETEMENT PAR INDUCTION DE CHAMPS MAGNETIQUES
Abstract: front page image
(EN)The invention relates to a method for measuring the thickness of a coating layer (Rev) of a part (P) that is formed on a substrate (Sub) of said part. The method comprises: supplying power to an induction means (Mind) using an AC electrical signal (S) in order to induce a magnetic field in the part (P); measuring at least one physical characteristic (Zn) that changes on the basis of the magnetic field (B) induced in the part (P); determining a first and second value of an indicator, which are determined from measurements of said physical characteristic that is produced when the electrical signal has first and second given frequencies, respectively; and then calculating the difference between the first and second value of the indicator, and determining the thickness (er) of the coating layer in accordance with said difference and with predetermined data that correlate the difference between values of the indicator with corresponding values of the thicknesses of the coating layer.
(FR)Procédé de mesure d'épaisseur d'une couche de revêtement (Rev) d'une pièce P formée sur un substrat (Sub) de cette pièce. Le procédé comportant : l'alimentation des moyens d'induction (Mind) à l'aide d'un signal électrique alternatif (S) afin d'induire dans la pièce (P) un champ magnétique; la mesure d'au moins une caractéristique physique (Zn) variant en fonction du champ magnétique (B) induit dans la pièce (P); la détermination de première et seconde valeurs d'un indicateur, respectivement déterminées à partir de mesures de ladite caractéristique physique réalisée lorsque le signal électrique a des première et seconde fréquences données; puis le calcul de l'écart entre les première et seconde valeurs de l'indicateur et la détermination de l'épaisseur de la couche de revêtement (er) en fonction de cet écart et de données prédéterminées corrélant : l'écart entre des valeurs de l'indicateur; avec des valeurs d'épaisseurs de couche de revêtement correspondantes.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)