WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2013056137) SYSTEMS AND METHODS ENABLING HIGH-THROUGHPUT, REAL TIME DETECTION OF ANALYTES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/056137    International Application No.:    PCT/US2012/060079
Publication Date: 18.04.2013 International Filing Date: 12.10.2012
IPC:
G01N 21/55 (2006.01)
Applicants: BROWN UNIVERSITY [US/US]; 42 Charlesfield Street Providence, RI 02912 (US).
PACIFICI, Domenico [IT/US]; (US).
LEZEC, Henri, J. [US/US]; (US).
PALMORE, Tayhas, G.r. [US/US]; (US).
SIU, Vince [CA/CA]; (CA).
MEHTA, Vihang [IN/IN]; (IN).
ROELKE, Alec [US/US]; (US).
RHIEU, Steve [US/US]; (US).
FENG, Jing [CN/CN]; (CN)
Inventors: PACIFICI, Domenico; (US).
LEZEC, Henri, J.; (US).
PALMORE, Tayhas, G.r.; (US).
SIU, Vince; (CA).
MEHTA, Vihang; (IN).
ROELKE, Alec; (US).
RHIEU, Steve; (US).
FENG, Jing; (CN)
Agent: SCOZZAFAVA, Mary Rose; Wilmer Cutler Pickering Hale And Dorr LLP 7 World Trade Center 250 Greenwich Street New York, NY 10007 (US)
Priority Data:
61/546,435 12.10.2011 US
61/662,048 20.06.2012 US
61/581,951 30.12.2011 US
Title (EN) SYSTEMS AND METHODS ENABLING HIGH-THROUGHPUT, REAL TIME DETECTION OF ANALYTES
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS PERMETTANT LA DÉTECTION EN TEMPS RÉEL D'ANALYTES À DES CADENCES ÉLEVÉES
Abstract: front page image
(EN)System and methods for detecting analytes are provided. The system includes a plasmonic interferometer with a first surface having a first and second scattering element and an aperture disposed between the first scattering element and the second scattering element. A first distance between the aperture and the first scattering element and a second distance between the aperture and the second scattering element are selected to provide interference of light at the slit. The system also includes a light source for illuminating the first surface of the plasmonic interferometer, a detector positioned for detecting light transmitted through the aperture, and a sample holder for disposing a sample to be analyzed onto the first surface of the plasmonic interferometer.
(FR)L'invention concerne un système et des procédés destinés à détecter des analytes. Le système comprend un interféromètre plasmonique présentant une première surface dotée d'un premier et d'un deuxième élément de diffusion et d'une ouverture disposée entre le premier élément de diffusion et le deuxième élément de diffusion. Une première distance entre l'ouverture et le premier élément de diffusion et une deuxième distance entre l'ouverture et le deuxième élément de diffusion sont choisies de façon à engendrer une interférence lumineuse au niveau de la fente. Le système comprend également une source lumineuse servant à éclairer la première surface de l'interféromètre plasmonique, un détecteur positionné en vue de détecter une lumière transmise à travers l'ouverture, et un porte-échantillon servant à disposer un échantillon à analyser sur la première surface de l'interféromètre plasmonique.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)