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1. (WO2013053968) METHOD FOR CONTROLLING A SCANNING MICROSCOPE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2013/053968    International Application No.:    PCT/ES2012/070703
Publication Date: 18.04.2013 International Filing Date: 10.10.2012
IPC:
G01Q 60/34 (2010.01)
Applicants: UNIVERSIDAD AUTONOMA DE MADRID [ES/ES]; Ciudad Universitaria Cantoblanco, c/ Einstein, 3 E-28049 Madrid (ES)
Inventors: MARTINEZ MARTIN, David; (ES).
RUIZ-CASTELLANOS, Miriam Jaafar; (ES).
GOMEZ HERRERO, Julio; (ES)
Agent: CARPINTERO LOPEZ, Mario; Herrero & Asociados, S.L. C/ Alcala, 35 E-28014 Madrid (ES)
Priority Data:
P201131624 10.10.2011 ES
Title (EN) METHOD FOR CONTROLLING A SCANNING MICROSCOPE
(ES) PROCEDIMIENTO DE CONTROL DE UN MICROSCOPIO DE BARRIDO
(FR) PROCÉDÉ DE COMMANDE D'UN MICROSCOPE À BALAYAGE
Abstract: front page image
(EN)The invention relates to a control method having at least two control loops for a scanning microscope provided with a microlever and an actuator suitable for energising the microlever, in which a first loop maintains as a controlled variable the oscillation amplitude of the microlever and as a manipulated variable the amplitude of the electric signal supplied to the actuator, and a second loop uses as a controlled variable the amplitude of the aforementioned electric signal and as a manipulated variable the tip-sample distance. Said procedure makes it possible to ignore changes of sign in the tip-sample interaction.
(ES)Procedimiento de control con al menos dos lazos de control para un microscopio de barrido provisto de una micropalanca y un actuador adaptado para excitar la micropalanca, donde un primer lazo mantiene como variable controlada la amplitud de oscilación de la micropalanca y como variable manipulada la amplitud de la señal eléctrica introducida en el actuador y un segundo lazo usa como variable controlada amplitud de la señal eléctrica anterior y como variable manipulada la distancia punta-muestra. Gracias a este procedimiento es posible ignorar cambios de signo en la interacción punta-muestra.
(FR)La présente invention concerne un procédé de commande comprenant au moins deux boucles de commande pour un microscope à balayage équipé d'un microlevier et d'un actionneur conçu pour exciter le microlevier, une première boucle maintenant, en tant que variable commandée, l'amplitude d'oscillation du microlevier et en tant que variable manipulée, l'amplitude du signal électrique introduit dans l'actionneur et une seconde boucle utilisant en tant que variable commandée, l'amplitude du signal électrique antérieur et en tant que variable manipulée, la distance pont-échantillon. Au moyen du procédé selon l'invention, il est possible d'ignorer les changements de signe lors de l'interaction pont-échantillon.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Spanish (ES)
Filing Language: Spanish (ES)